Principais avanços tecnológicos em pastilhas RF para sistemas de navegação por satélite e inovações em plataformas de ensaio automatizadas

Jason Chen     4 de outubro de 2025 

Resumo

O desenvolvimento de chips de RF desempenha um papel fundamental no desempenho e na fiabilidade dos sistemas de navegação por satélite. À medida que os terminais de navegação por satélite continuam a evoluir, Chips RF tornaram-se componentes-chave, com os avanços a conduzirem a uma maior precisão de posicionamento, baixo consumo de energia e miniaturização. Este artigo explora as recentes descobertas em Chip RF particularmente no contexto da navegação por satélite, e destaca as inovações em plataformas de ensaio automatizadas que apoiam a industrialização dos terminais de navegação.

I. Caraterísticas técnicas das pastilhas de RF para navegação por satélite

Chips RF para sistemas de navegação por satélite são responsáveis pela conversão de sinais de ondas electromagnéticas entre os domínios analógico e digital. Estes chips integram componentes críticos, como amplificadores de potência, amplificadores de baixo ruído, filtros e comutadores de RF, para criar uma cadeia completa de processamento de sinais. A arquitetura inclui normalmente vários canais de processamento paralelo, cada um equipado com amplificação de baixo ruído, filtragem e módulos amplificadores de ganho programável, garantindo a compatibilidade com sinais de navegação multifrequência como Beidou, GPS e GLONASS.

II. Arquitetura técnica da plataforma de testes automatizados

Ensaios Chips RF requer plataformas automatizadas precisas e eficientes. A plataforma de teste automatizada apresenta um design aberto e modular, combinando sistemas de hardware e software para otimizar o processo de teste para Chips RF.

Integração do sistema de hardware

A plataforma integra instrumentos padrão, como geradores de sinal, analisadores de espetro e analisadores de rede vetorial, juntamente com dispositivos de teste especializados e fontes de alimentação programáveis. Este ambiente de teste unificado permite uma rápida adaptação a vários Chip RF desenhos.

Sistema de controlo de software

O software de controlo automatizado, baseado em modelos de teste, gere o processo de teste. O software permite a configuração dos estados do chip, a geração de sinais de estímulo e a análise automática do desempenho. Os modelos de teste suportam a edição definida pelo utilizador, incluindo a criação, cópia e modificação de parâmetros, garantindo flexibilidade e eficiência no fluxo de trabalho de teste.

III. Métodos de ensaio para os principais indicadores de desempenho

Testes automatizados de Chips RF inclui uma série de testes para avaliar os principais indicadores de desempenho, garantindo a fiabilidade e a eficiência dos sistemas de navegação:

Teste de Linearidade

Este teste avalia as caraterísticas não lineares do chip, medindo o ponto de interceção de intermodulação de terceira ordem e o ponto de compressão de 1dB, fornecendo informações sobre os níveis de linearidade e distorção do chip.

Teste das caraterísticas de ganho

Este teste mede as capacidades de amplificação de sinal do chip, validando a sua gama de ganho e controlo em condições de funcionamento variáveis.

Teste de desempenho de ruído

Avaliando a figura de ruído e o ruído de fase do oscilador local, este teste determina o impacto do ruído interno do chip na sensibilidade global do sistema, o que é crucial para uma navegação precisa.

Teste de seletividade de frequência

Este teste verifica a capacidade do chip para rejeitar sinais indesejados, tais como sinais fora de banda e de imagem, que podem interferir com a receção de sinais de satélite.

IV. Verificação experimental e avaliação do desempenho

Utilizar o Chip RF de navegação por satélite multimodo RX3701 como estudo de caso, a plataforma de testes automatizados demonstrou a sua capacidade de efetuar testes abrangentes. Este chip suporta os sistemas de navegação Beidou, GPS e GLONASS, operando nas bandas de frequência de 1,15-1,65 GHz e 2,45-2,55 GHz. Os resultados dos testes confirmaram o desempenho do chip, incluindo o cumprimento das especificações de design para indicadores-chave como o ponto de interceção de terceira ordem (28,391 dBm), a gama de ganho total (72,318 dB) e a figura de ruído.

V. Perspectivas técnicas e tendências de desenvolvimento

À medida que os sistemas de navegação por satélite continuam a evoluir, Chips RF Os computadores de secretária enfrentarão novas exigências de melhor desempenho e menor consumo de energia. Espera-se que os seguintes avanços impulsionem o futuro da Chip RF ensaios e desenvolvimento:

Melhorar a eficiência dos testes

Para satisfazer as necessidades de produção em massa de Chips RF, A partir de agora, haverá um impulso para aumentar o rendimento dos ensaios através de arquitecturas de ensaio paralelas e de algoritmos de programação inteligentes.

Otimização da precisão do teste

As inovações nos algoritmos de compensação de erros e nas técnicas de calibração serão cruciais para aumentar a exatidão das medições de sinais fracos, que são vitais para a navegação por satélite de alta precisão.

Promover a normalização

O estabelecimento de um sistema de testes normalizado assegurará o desenvolvimento coordenado do Chip RF indústria, promovendo a interoperabilidade e a coerência entre aplicações.

Conclusão

O avanço contínuo da Chips RF e plataformas de ensaio automatizadas é fundamental para o desenvolvimento de sistemas de navegação por satélite de elevado desempenho. À medida que a 5G, a IoT e outras novas tecnologias convergem, o papel da Chips RF irá expandir-se para além da navegação, tornando-se central para uma vasta gama de aplicações. A evolução da Chip RF As plataformas de ensaio apoiarão a procura atual de inovação nas tecnologias de comunicação e navegação por satélite.

Jason Chen

Dr. Jason Chen - Especialista em validação e automação pós-silício Dr. Jason Chen é um especialista experiente em testes de semicondutores, especializado no desenvolvimento de soluções avançadas de testes automatizados para aplicações de sinais mistos, analógicos discretos, MCU e SoC. Ele traz anos de vasta experiência dos principais fabricantes de instrumentos, abrangendo o desenvolvimento de soluções de aplicação, automação de caraterização de laboratório, aumento de produção e migração de plataforma de teste. O Dr. Chen possui uma profunda compreensão do papel crítico que a validação pós-silício desempenha para garantir a fabricação de chips de alta qualidade. Este processo abrangente inclui a preparação, validação do desempenho, testes de robustez, caraterização, ATE NPI e testes de fiabilidade. Ele dedica-se ao avanço das metodologias de validação pós-silício, promovendo...

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