उपग्रह नेविगेशन प्रणालियों के लिए आरएफ चिप्स में प्रमुख तकनीकी उन्नतियाँ और स्वचालित परीक्षण प्लेटफ़ॉर्म में नवाचार
जेसन चेन 4 अक्टूबर, 2025
सारांश
आरएफ चिप्स का विकास उपग्रह नेविगेशन प्रणालियों के प्रदर्शन और विश्वसनीयता में महत्वपूर्ण भूमिका निभाता है। जैसे-जैसे उपग्रह नेविगेशन टर्मिनल विकसित होते जा रहे हैं, आरएफ चिप्स ये प्रमुख घटक बन गए हैं, जिनमें प्रगति ने बेहतर स्थिति निर्धारण सटीकता, कम बिजली खपत और सूक्ष्मीकरण को संभव बनाया है। यह लेख में हालिया महत्वपूर्ण उपलब्धियों का अन्वेषण करता है। आरएफ चिप प्रौद्योगिकी, विशेष रूप से उपग्रह नेविगेशन के संदर्भ में, और नेविगेशन टर्मिनलों के औद्योगिकीकरण में सहायता करने वाले स्वचालित परीक्षण प्लेटफार्मों में नवाचारों को उजागर करती है।.
I. उपग्रह नेविगेशन आरएफ चिप्स की तकनीकी विशेषताएँ
आरएफ चिप्स सैटेलाइट नेविगेशन सिस्टम के लिए इलेक्ट्रोमैग्नेटिक तरंग संकेतों को एनालॉग और डिजिटल डोमेन के बीच परिवर्तित करने की जिम्मेदारी इन्हीं चिप्स पर होती है। ये चिप्स पावर एम्पलीफायर्स, लो-नोइज़ एम्पलीफायर्स, फिल्टर्स और आरएफ स्विचेस जैसे महत्वपूर्ण घटकों को एकीकृत करके एक संपूर्ण सिग्नल प्रोसेसिंग श्रृंखला बनाते हैं। इस आर्किटेक्चर में आमतौर पर कई समानांतर प्रोसेसिंग चैनल होते हैं, जिनमें लो-नोइज़ एम्पलीफिकेशन, फिल्टरिंग और प्रोग्रामेबल गेन एम्पलीफायर मॉड्यूल होते हैं, जो बेइदोउ, जीपीएस और ग्लोनास जैसे बहु-आवृत्ति नेविगेशन संकेतों के साथ संगतता सुनिश्चित करते हैं।.
II. स्वचालित परीक्षण प्लेटफ़ॉर्म की तकनीकी संरचना
परीक्षण आरएफ चिप्स सटीक और कुशल स्वचालित प्लेटफ़ॉर्म की आवश्यकता है। स्वचालित परीक्षण प्लेटफ़ॉर्म में एक खुला, मॉड्यूलर डिज़ाइन है, जो हार्डवेयर और सॉफ़्टवेयर प्रणालियों को संयोजित करके परीक्षण प्रक्रिया को सुव्यवस्थित करता है। आरएफ चिप्स.
हार्डवेयर प्रणाली एकीकरण
यह प्लेटफ़ॉर्म सिग्नल जनरेटर, स्पेक्ट्रम एनालाइज़र और वेक्टर नेटवर्क एनालाइज़र जैसे मानक उपकरणों के साथ-साथ विशेष परीक्षण फिक्स्चर और प्रोग्रामेबल पावर सप्लाई को एकीकृत करता है। यह एकीकृत परीक्षण वातावरण विभिन्न के लिए त्वरित अनुकूलन की अनुमति देता है। आरएफ चिप डिज़ाइन।.
सॉफ़्टवेयर नियंत्रण प्रणाली
परीक्षण टेम्पलेट्स पर आधारित स्वचालित नियंत्रण सॉफ़्टवेयर परीक्षण प्रक्रिया का प्रबंधन करता है। यह सॉफ़्टवेयर चिप राज्यों की कॉन्फ़िगरेशन, उत्तेजना संकेत उत्पन्न करने और स्वचालित प्रदर्शन विश्लेषण को सक्षम बनाता है। परीक्षण टेम्पलेट्स उपयोगकर्ता-परिभाषित संपादन का समर्थन करते हैं, जिसमें पैरामीटरों का निर्माण, प्रतिलिपि बनाना और संशोधन शामिल है, जिससे परीक्षण कार्यप्रवाह में लचीलापन और दक्षता सुनिश्चित होती है।.
III. मुख्य प्रदर्शन संकेतकों के लिए परीक्षण विधियाँ
की स्वचालित परीक्षण आरएफ चिप्स नेविगेशन प्रणालियों की विश्वसनीयता और दक्षता सुनिश्चित करने के लिए, प्रमुख प्रदर्शन संकेतकों का मूल्यांकन करने हेतु परीक्षणों की एक श्रृंखला शामिल है:
रेखीयता परीक्षण
यह परीक्षण चिप की गैर-रेखीय विशेषताओं का मूल्यांकन करने के लिए तीसरे क्रम की इंटरमॉड्यूलेशन इंटरसेप्ट पॉइंट और 1 डीबी कम्प्रेशन पॉइंट को मापता है, जिससे चिप की रैखिकता और विरूपण स्तरों के बारे में जानकारी मिलती है।.
गैन विशेषताएँ परीक्षण
यह परीक्षण चिप की संकेत प्रवर्धन क्षमताओं को मापता है, विभिन्न परिचालन स्थितियों में इसके गेन रेंज और नियंत्रण को मान्य करता है।.
शोर प्रदर्शन परीक्षण
शोर आँक और स्थानीय दोलक चरण शोर का आकलन करके, यह परीक्षण सटीक नेविगेशन के लिए अत्यंत महत्वपूर्ण समग्र प्रणाली की संवेदनशीलता पर आंतरिक चिप शोर के प्रभाव का निर्धारण करता है।.
आवृत्ति चयनशीलता परीक्षण
यह परीक्षण चिप की अवांछित संकेतों, जैसे कि बैंड के बाहर के संकेत और छवि संकेत, को अस्वीकार करने की क्षमता को सत्यापित करता है, जो उपग्रह संकेत ग्रहण में हस्तक्षेप कर सकते हैं।.
IV. प्रायोगिक सत्यापन और प्रदर्शन मूल्यांकन
का उपयोग करके RX3701 बहु-मोड उपग्रह नेविगेशन आरएफ चिप एक केस स्टडी के रूप में, स्वचालित परीक्षण मंच ने व्यापक परीक्षण करने की अपनी क्षमता का प्रदर्शन किया। यह चिप 1.15-1.65 गीगाहर्ट्ज़ और 2.45-2.55 गीगाहर्ट्ज़ आवृत्ति बैंड में काम करने वाले बेidou, GPS, और GLONASS नेविगेशन प्रणालियों का समर्थन करता है। परीक्षण परिणामों ने चिप के प्रदर्शन की पुष्टि की, जिसमें तीसरे-क्रम के इंटरसेप्ट पॉइंट (28.391 dBm), कुल गेन रेंज (72.318 dB), और नॉइज़ फिगर जैसे प्रमुख संकेतकों के लिए डिज़ाइन विनिर्देशों को पूरा करना शामिल है।.
V. तकनीकी परिदृश्य और विकास प्रवृत्तियाँ
जैसे-जैसे उपग्रह नेविगेशन प्रणालियाँ विकसित होती जा रही हैं, आरएफ चिप्स बेहतर प्रदर्शन और कम बिजली खपत के लिए नई मांगों का सामना करना पड़ेगा। निम्नलिखित प्रगति से भविष्य को आगे बढ़ाने की उम्मीद है। आरएफ चिप परीक्षण और विकास:
परीक्षण दक्षता में सुधार
की थोक उत्पादन आवश्यकताओं को पूरा करने के लिए आरएफ चिप्स, समानांतर परीक्षण आर्किटेक्चर और बुद्धिमान शेड्यूलिंग एल्गोरिदम के माध्यम से परीक्षण थ्रूपुट बढ़ाने के लिए एक प्रयास किया जाएगा।.
परीक्षण सटीकता का अनुकूलन
त्रुटि क्षतिपूर्ति एल्गोरिदम और कैलिब्रेशन तकनीकों में नवाचार कमजोर संकेत मापों की सटीकता बढ़ाने में महत्वपूर्ण होंगे, जो उच्च-सटीकता वाले उपग्रह नेविगेशन के लिए अनिवार्य हैं।.
मानकीकरण को बढ़ावा देना
एक मानकीकृत परीक्षण प्रणाली की स्थापना यह सुनिश्चित करेगी कि आरएफ चिप उद्योग, अनुप्रयोगों में अंतर-संचालनीयता और सुसंगतता को बढ़ावा देना।.
निष्कर्ष
के निरंतर विकास आरएफ चिप्स और स्वचालित परीक्षण प्लेटफ़ॉर्म उच्च-प्रदर्शन उपग्रह नेविगेशन प्रणालियों के विकास में महत्वपूर्ण है। जैसे-जैसे 5G, IoT, और अन्य नई प्रौद्योगिकियाँ एक साथ आ रही हैं, की भूमिका आरएफ चिप्स नेविगेशन से परे विस्तार करेगा, और विभिन्न प्रकार के अनुप्रयोगों के लिए केंद्रीय बन जाएगा। का विकास आरएफ चिप परीक्षण प्लेटफ़ॉर्म उपग्रह संचार और नेविगेशन प्रौद्योगिकियों में नवाचार की चल रही मांग का समर्थन करेंगे।.
जेसन चेन
डॉ. जेसन चेन – पोस्ट-सिलिकॉन वैलिडेशन और ऑटोमेशन विशेषज्ञ डॉ. जेसन चेन सेमीकंडक्टर परीक्षण में एक अनुभवी विशेषज्ञ हैं, जो मिक्स्ड-सिग्नल, एनालॉग डिस्क्रीट, MCU, और SoC अनुप्रयोगों के लिए उन्नत स्वचालित परीक्षण समाधान विकसित करने में विशेषज्ञता रखते हैं। वह प्रमुख उपकरण निर्माताओं से वर्षों का व्यापक अनुभव लेकर आते हैं, जिसमें अनुप्रयोग समाधान विकास, लैब कैरेक्टरिज़ेशन ऑटोमेशन, उत्पादन रैम्प-अप, और परीक्षण प्लेटफ़ॉर्म माइग्रेशन शामिल है। डॉ. चेन को उच्च-गुणवत्ता वाले चिप निर्माण को सुनिश्चित करने में पोस्ट-सिलिकॉन सत्यापन की महत्वपूर्ण भूमिका की गहरी समझ है। इस व्यापक प्रक्रिया में ब्रिंग-अप, प्रदर्शन सत्यापन, मजबूती परीक्षण, विशेषण, ATE NPI, और विश्वसनीयता परीक्षण शामिल हैं। वह ... को बढ़ावा देकर पोस्ट-सिलिकॉन सत्यापन पद्धतियों को आगे बढ़ाने के लिए समर्पित हैं।






