Belangrijke technologische doorbraken in RF-chips voor satellietnavigatiesystemen en innovaties in geautomatiseerde testplatforms

Jason Chen     4 oktober 2025 

Abstract

De ontwikkeling van RF-chips speelt een cruciale rol in de prestaties en betrouwbaarheid van satellietnavigatiesystemen. Satellietnavigatieterminals blijven zich ontwikkelen, RF-chips zijn belangrijke componenten geworden, met ontwikkelingen die zorgen voor verbeterde positioneernauwkeurigheid, laag energieverbruik en miniaturisatie. Dit artikel verkent recente doorbraken in RF-chip technologie, met name in de context van satellietnavigatie, en belicht innovaties in geautomatiseerde testplatforms die de industrialisatie van navigatieterminals ondersteunen.

I. Technische kenmerken van RF-chips voor satellietnavigatie

RF-chips voor satellietnavigatiesystemen zijn verantwoordelijk voor het omzetten van elektromagnetische golfsignalen tussen analoge en digitale domeinen. Deze chips integreren kritieke componenten, zoals vermogensversterkers, ruisarme versterkers, filters en RF-schakelaars, om een complete signaalverwerkingsketen te creëren. De architectuur omvat meestal meerdere parallelle verwerkingskanalen, elk uitgerust met ruisarme versterking, filtering en programmeerbare versterkermodules, waardoor compatibiliteit met multifrequente navigatiesignalen zoals Beidou, GPS en GLONASS gegarandeerd is.

II. Technische architectuur van het geautomatiseerde testplatform

Testen RF-chips vereist nauwkeurige en efficiënte geautomatiseerde platforms. Het geautomatiseerde testplatform heeft een open, modulair ontwerp, waarin hardware- en softwaresystemen worden gecombineerd om het testproces te stroomlijnen voor RF-chips.

Integratie van hardwaresystemen

Het platform integreert standaard instrumenten zoals signaalgeneratoren, spectrum analyzers en vector netwerk analyzers, samen met gespecialiseerde testopstellingen en programmeerbare voedingen. Deze uniforme testomgeving kan snel worden aangepast aan verschillende RF-chip ontwerpen.

Software besturingssysteem

Geautomatiseerde besturingssoftware, gebaseerd op testsjablonen, beheert het testproces. De software maakt de configuratie van chipstatussen, het genereren van stimulussignalen en automatische prestatieanalyses mogelijk. Testsjablonen ondersteunen door de gebruiker gedefinieerde bewerkingen, waaronder het aanmaken, kopiëren en wijzigen van parameters, wat zorgt voor flexibiliteit en efficiëntie in de testworkflow.

III. Testmethoden voor kernprestatie-indicatoren

Geautomatiseerd testen van RF-chips omvat een reeks tests om de belangrijkste prestatie-indicatoren te evalueren en de betrouwbaarheid en efficiëntie van navigatiesystemen te garanderen:

Lineariteitstests

Deze test evalueert de niet-lineaire eigenschappen van de chip door het derde-orde intermodulatie interceptiepunt en 1dB compressiepunt te meten, wat inzicht geeft in de lineariteit en vervormingsniveaus van de chip.

Test versterkingskenmerken

Deze test meet de signaalversterkingscapaciteiten van de chip en valideert het versterkingsbereik en de controle onder variërende bedrijfsomstandigheden.

Geluidsprestatietest

Door het ruisgetal en de faseruis van de lokale oscillator te beoordelen, bepaalt deze test de invloed van interne chipruis op de algehele gevoeligheid van het systeem, wat cruciaal is voor nauwkeurige navigatie.

Frequentieselectiviteitstest

Deze test controleert het vermogen van de chip om ongewenste signalen te weigeren, zoals out-of-band en beeldsignalen, die de ontvangst van satellietsignalen kunnen verstoren.

IV. Experimentele verificatie en prestatie-evaluatie

De RX3701 multi-mode satellietnavigatie RF-chip als casestudy, toonde het geautomatiseerde testplatform zijn vermogen om uitgebreide tests uit te voeren. Deze chip ondersteunt Beidou-, GPS- en GLONASS-navigatiesystemen en werkt in de frequentiebanden 1.15-1.65 GHz en 2.45-2.55 GHz. De testresultaten bevestigden de prestaties van de chip, waaronder het voldoen aan de ontwerpspecificaties voor belangrijke indicatoren zoals het derde-orde onderscheppingspunt (28,391 dBm), het totale versterkingsbereik (72,318 dB) en het ruisgetal.

V. Technische vooruitzichten en ontwikkelingstrends

Satellietnavigatiesystemen blijven zich ontwikkelen, RF-chips zullen te maken krijgen met nieuwe eisen voor betere prestaties en een lager energieverbruik. De volgende ontwikkelingen zullen naar verwachting de toekomst van RF-chip testen en ontwikkelen:

Testefficiëntie verbeteren

Om te voldoen aan de massaproductievereisten van RF-chips, Er zal veel aandacht worden besteed aan het verhogen van de testdoorvoer door middel van parallelle testarchitecturen en intelligente planningsalgoritmen.

De nauwkeurigheid van testen optimaliseren

Innovaties in algoritmen voor foutcompensatie en kalibratietechnieken zullen cruciaal zijn voor het verbeteren van de nauwkeurigheid van metingen van zwakke signalen, die van vitaal belang zijn voor satellietnavigatie met hoge precisie.

Standaardisatie bevorderen

Het opzetten van een gestandaardiseerd testsysteem zal zorgen voor een gecoördineerde ontwikkeling van de RF-chip industrie, om interoperabiliteit en consistentie tussen applicaties te bevorderen.

Conclusie

De voortdurende vooruitgang van RF-chips en geautomatiseerde testplatforms is cruciaal voor de ontwikkeling van hoogwaardige satellietnavigatiesystemen. Naarmate 5G, IoT en andere nieuwe technologieën samenkomen, zal de rol van RF-chips zal zich niet meer beperken tot navigatie, maar een centrale rol gaan spelen in een breed scala aan toepassingen. De evolutie van RF-chip testplatforms zullen de voortdurende vraag naar innovatie in satellietcommunicatie- en navigatietechnologieën ondersteunen.

Jason Chen

Dr. Jason Chen - Post-Silicon Validation & Automation Expert Dr. Jason Chen is een doorgewinterde expert in halfgeleidertests, gespecialiseerd in het ontwikkelen van geavanceerde geautomatiseerde testoplossingen voor mixed-signal, analoge discrete, MCU- en SoC-toepassingen. Hij heeft jarenlange ervaring bij toonaangevende fabrikanten van instrumenten, waaronder de ontwikkeling van toepassingsoplossingen, automatisering van laboratoriumkarakterisering, opstarten van de productie en migratie van testplatformen. Dr. Chen heeft een goed begrip van de kritieke rol die post-silicium validatie speelt bij het garanderen van chipfabricage van hoge kwaliteit. Dit uitgebreide proces omvat bring-up, prestatievalidatie, robuustheidstests, karakterisering, ATE NPI en betrouwbaarheidstests. Hij is toegewijd aan het bevorderen van post-silicium validatiemethodologieën door...

Lees meer artikelen van Jason Chen