위성 항법 시스템용 RF 칩의 주요 기술 혁신과 자동화된 테스트 플랫폼의 혁신

제이슨 첸     10월 4, 2025 

초록

RF 칩의 개발은 위성 내비게이션 시스템의 성능과 신뢰성에 중요한 역할을 합니다. 위성 내비게이션 단말기는 계속 진화하고 있습니다, RF 칩 는 위치 정확도 향상, 저전력 소비, 소형화를 이끄는 핵심 구성 요소로 자리 잡았습니다. 이 문서에서는 최근의 획기적인 발전을 살펴봅니다. RF 칩 기술, 특히 위성 내비게이션의 맥락에서 내비게이션 단말기의 산업화를 지원하는 자동화된 테스트 플랫폼의 혁신에 대해 강조합니다.

I. 위성 항법 RF 칩의 기술적 특성

RF 칩 위성 항법 시스템의 경우 전자기파 신호를 아날로그와 디지털 영역으로 변환하는 역할을 합니다. 이 칩은 전력 증폭기, 저잡음 증폭기, 필터, RF 스위치와 같은 핵심 부품을 통합하여 완전한 신호 처리 체인을 만듭니다. 이 아키텍처에는 일반적으로 저잡음 증폭, 필터링 및 프로그래밍 가능한 이득 증폭기 모듈이 각각 장착된 여러 병렬 처리 채널이 포함되어 있어 Beidou, GPS, GLONASS와 같은 다중 주파수 내비게이션 신호와의 호환성을 보장합니다.

II. 자동화된 테스트 플랫폼의 기술 아키텍처

테스트 RF 칩 정확하고 효율적인 자동화 플랫폼이 필요합니다. 자동화된 테스트 플랫폼은 하드웨어와 소프트웨어 시스템을 결합한 개방형 모듈식 설계로 다음과 같은 테스트 프로세스를 간소화합니다. RF 칩.

하드웨어 시스템 통합

이 플랫폼에는 신호 발생기, 스펙트럼 분석기, 벡터 네트워크 분석기와 같은 표준 계측기와 특수 테스트 픽스처 및 프로그래밍 가능한 전원 공급 장치가 통합되어 있습니다. 이 통합 테스트 환경은 다양한 환경에 빠르게 적응할 수 있습니다. RF 칩 디자인.

소프트웨어 제어 시스템

테스트 템플릿을 기반으로 하는 자동 제어 소프트웨어가 테스트 프로세스를 관리합니다. 이 소프트웨어를 통해 칩 상태 구성, 자극 신호 생성, 자동 성능 분석이 가능합니다. 테스트 템플릿은 매개변수 생성, 복사, 수정 등 사용자 정의 편집을 지원하여 테스트 워크플로우의 유연성과 효율성을 보장합니다.

III. 핵심 성과 지표에 대한 테스트 방법

다음의 자동화된 테스트 RF 칩 에는 내비게이션 시스템의 신뢰성과 효율성을 보장하는 주요 성능 지표를 평가하는 일련의 테스트가 포함되어 있습니다:

선형성 테스트

이 테스트는 3차 상호 변조 인터셉트 지점과 1dB 압축 지점을 측정하여 칩의 비선형 특성을 평가하여 칩의 선형성 및 왜곡 수준에 대한 통찰력을 제공합니다.

이득 특성 테스트

이 테스트는 칩의 신호 증폭 기능을 측정하여 다양한 작동 조건에서 이득 범위와 제어를 검증합니다.

소음 성능 테스트

이 테스트는 잡음 수치와 로컬 발진기 위상 잡음을 평가하여 내부 칩 잡음이 전체 시스템 감도에 미치는 영향을 결정하며, 이는 정확한 내비게이션에 매우 중요합니다.

주파수 선택성 테스트

이 테스트는 위성 신호 수신을 방해할 수 있는 대역 외 신호 및 이미지 신호와 같은 원치 않는 신호를 거부하는 칩의 기능을 검증합니다.

IV. 실험 검증 및 성능 평가

사용 RX3701 멀티 모드 위성 항법 RF 칩 사례 연구로 자동화된 테스트 플랫폼이 포괄적인 테스트를 수행할 수 있는 능력을 입증했습니다. 이 칩은 1.15~1.65GHz 및 2.45~2.55GHz 주파수 대역에서 작동하는 Beidou, GPS 및 GLONASS 내비게이션 시스템을 지원합니다. 테스트 결과 3차 인터셉트 포인트(28.391dBm), 총 이득 범위(72.318dB), 잡음 수치와 같은 주요 지표의 설계 사양을 충족하는 등 칩의 성능이 확인되었습니다.

V. 기술 전망 및 개발 동향

위성 내비게이션 시스템은 계속 발전하고 있습니다, RF 칩 는 향상된 성능과 낮은 전력 소비에 대한 새로운 요구에 직면하게 될 것입니다. 다음과 같은 발전이 미래를 주도할 것으로 예상됩니다. RF 칩 테스트 및 개발:

테스트 효율성 향상

다음과 같은 대량 생산 요구 사항을 충족하려면 RF 칩, 병렬 테스트 아키텍처와 지능형 스케줄링 알고리즘을 통해 테스트 처리량을 늘리려는 움직임이 있을 것입니다.

테스트 정확도 최적화

오류 보정 알고리즘과 보정 기술의 혁신은 고정밀 위성 항법에 필수적인 약한 신호 측정의 정확도를 향상시키는 데 매우 중요할 것입니다.

표준화 촉진

표준화된 테스트 시스템을 구축하면 다음과 같이 조율된 개발을 보장할 수 있습니다. RF 칩 업계에서 애플리케이션 간 상호 운용성과 일관성을 촉진합니다.

결론

지속적인 발전 RF 칩 및 자동화된 테스트 플랫폼은 고성능 위성 항법 시스템 개발에 있어 중추적인 역할을 합니다. 5G, IoT 및 기타 새로운 기술이 융합됨에 따라 다음과 같은 역할이 중요해지고 있습니다. RF 칩 는 내비게이션을 넘어 다양한 애플리케이션의 중심이 될 것입니다. 내비게이션의 진화 RF 칩 테스트 플랫폼은 위성 통신 및 내비게이션 기술의 혁신에 대한 지속적인 수요를 지원할 것입니다.

제이슨 첸

제이슨 첸 박사 - 포스트 실리콘 검증 및 자동화 전문가 제이슨 첸 박사는 혼합 신호, 아날로그 디스크리트, MCU 및 SoC 애플리케이션을 위한 고급 자동화 테스트 솔루션 개발을 전문으로 하는 반도체 테스트 분야의 노련한 전문가입니다. 그는 선도적인 계측기 제조업체에서 애플리케이션 솔루션 개발, 실험실 특성화 자동화, 생산 증가 및 테스트 플랫폼 마이그레이션을 아우르는 다년간의 폭넓은 경험을 보유하고 있습니다. 첸 박사는 고품질 칩 제조를 보장하기 위해 실리콘 후 검증이 수행하는 중요한 역할에 대해 깊이 이해하고 있습니다. 이 포괄적인 프로세스에는 가져오기, 성능 검증, 견고성 테스트, 특성화, ATE NPI 및 신뢰성 테스트가 포함됩니다. 그는 실리콘 후 검증 방법론을 발전시키는 데 전념하고 있습니다.

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