आरएफ चिप्स के लिए प्रमुख परीक्षण तकनीकें: उच्च-प्रदर्शन वायरलेस संचार सुनिश्चित करना

यवेट वू     9 अक्टूबर, 2025 

आरएफ चिप्स ये वायरलेस संचार प्रणालियों में महत्वपूर्ण घटक हैं, और इनका प्रदर्शन पूरे संचार लिंक की विश्वसनीयता को सीधे प्रभावित करता है। यह लेख व्यवस्थित रूप से तीन प्रमुख तकनीकों का परिचय देगा। आरएफ चिप परीक्षण: स्विच समय, हार्मोनिक्स और इंटरमॉड्यूलेशन विरूपण। हम प्रयोगशाला सत्यापन की तुलना बड़े पैमाने पर उत्पादन परीक्षण से भी करेंगे।.

1. आरएफ चिप्स के लिए स्विच टाइम परीक्षण

स्विच समय प्रतिक्रिया गति को मापने के लिए एक महत्वपूर्ण पैरामीटर है। आरएफ चिप्स, विशेष रूप से उस समय को संदर्भित करता है जो सिग्नल पावर को 90% पर स्थिर होने में लगता है, जब “ऑन” से “ऑफ” या इसके विपरीत संक्रमण होता है। यह पैरामीटर के लिए आवश्यक है आरएफ चिप्स फ्रीक्वेंसी डिवीजन डुप्लेक्स (एफडीडी) और टाइम डिवीजन डुप्लेक्स (टीडीडी) प्रणालियों में।.

प्रयोगशाला परीक्षण विधि

एक प्रयोगशाला के वातावरण में, उच्च-बैंडविड्थ ऑसिलोस्कोप आमतौर पर स्विच समय परीक्षण के लिए उपयोग किए जाते हैं। नियंत्रण संकेत और दोनों आरएफ चिप समय अंतर मापने के लिए आउटपुट सिग्नल को एक साथ कैप्चर करना आवश्यक है। ऑसिलोस्कोप की बैंडविड्थ अत्यंत महत्वपूर्ण है और एम्प्लिट्यूड त्रुटियों को कम करने के लिए यह उच्चतम सिग्नल आवृत्ति का 2–5 गुना होना चाहिए। जब सिग्नल आवृत्ति ऑसिलोस्कोप की बैंडविड्थ का एक-तिहाई होती है, तो राइज़ टाइम मापन त्रुटि 4.4% के भीतर नियंत्रित की जा सकती है।.

थोक उत्पादन परीक्षण अनुकूलन

बड़े पैमाने पर उत्पादन में, उच्च-लागत ऑसिलोस्कोप समाधान व्यावहारिक नहीं है। इसके बजाय, हम परीक्षण प्रणाली बनाने के लिए एक PXIe-6570 डिजिटल मोड एनालाइज़र का उपयोग करते हैं, जिसमें एक वेक्टर सिग्नल ट्रांससीवर (VST) होता है। यह समाधान PXI बस की उच्च समकालिकता विशेषताओं (250 ps जितनी कम इंटर-मॉड्यूल देरी के साथ) का पूर्ण उपयोग करता है, डिजिटल उपकरण के माध्यम से स्विच कमांड भेजता है और VST को डेटा एकत्र करने के लिए ट्रिगर करता है। आरएफ संकेत, इस प्रकार स्विच समय की सटीक गणना करता है। यह डिज़ाइन परीक्षण दक्षता में महत्वपूर्ण सुधार करता है और सिस्टम की जटिलता को कम करता है।.

2. आरएफ चिप्स के लिए हार्मोनिक परीक्षण

में गैर-रेखीय घटक आरएफ चिप्स हार्मोनिक्स उत्पन्न करते हैं, जिससे मूल आवृत्ति के पूर्णांक गुणजों पर अवांछित विकिरण होता है। हार्मोनिक परीक्षण बैंड के बाहर के उत्सर्जनों का मूल्यांकन करने के लिए आवश्यक है। आरएफ चिप्स.

परीक्षण विधि

एक निरंतर तरंग संकेत का उपयोग उत्तेजित करने के लिए किया जाता है। आरएफ चिप, और हार्मोनिक आवृत्तियों पर आउटपुट पावर मापी जाती है। सामान्य परीक्षण मदों में तीसरी और पाँचवीं हार्मोनिक्स शामिल हैं। सटीक माप के लिए:

एक सिग्नल एनालाइज़र का उपयोग अपेक्षित आवृत्ति बिंदुओं पर पीक खोज करने के लिए किया जा सकता है।.

वैकल्पिक रूप से, समय-क्षेत्र गेटिंग पावर माप के लिए शून्य-स्पैन मोड का उपयोग किया जा सकता है।.

बड़े पैमाने पर उत्पादन परीक्षण कार्यान्वयन

बड़े पैमाने पर उत्पादन में, एक हार्मोनिक परीक्षण प्रणाली VST को उच्च-शक्ति मॉड्यूल (जैसे NI 5534, 38 dBm की आउटपुट पावर के साथ) के साथ जोड़कर बनाई जाती है। सिग्नल को एम्पलीफाई, फ़िल्टर किया जाता है, और फिर इनपुट किया जाता है। आरएफ चिप. मूल आवृत्ति को फ़िल्टर करने के बाद, VST द्वारा आउटपुट सिग्नल के हार्मोनिक्स का विश्लेषण किया जाता है। यह दृष्टिकोण उच्च सटीकता सुनिश्चित करते हुए उपकरणों के पुन: उपयोग को अधिकतम करता है।.

3. आरएफ चिप्स के लिए इंटरमॉड्यूलेशन विरूपण परीक्षण

अंतर-मॉड्यूलेशन विरूपण (IMD) गैर-रेखीयता का एक महत्वपूर्ण संकेतक है। आरएफ चिप्स, विशेष रूप से प्रभावित करने वाला आरएफ चिप्स जो कई आवृत्ति बैंडों में काम करते हैं।.

सैद्धांतिक आधार

जब एक आरएफ चिप यह एक साथ कई आवृत्ति संकेतों को संसाधित करता है, इसकी गैर-रेखीय विशेषताएँ नई आवृत्ति घटक उत्पन्न करती हैं। तीसरे क्रम के इंटरमॉड्यूलेशन उत्पाद (IMD3) को फ़िल्टर करना विशेष रूप से चुनौतीपूर्ण होता है क्योंकि वे मूल आवृत्ति के निकट होते हैं, जिससे सिस्टम के प्रदर्शन पर महत्वपूर्ण प्रभाव पड़ता है। तीसरे क्रम का इंटरसेप्ट पॉइंट (IP3/TOI) एक प्रमुख पैरामीटर है जो की रैखिकता का वर्णन करने के लिए उपयोग किया जाता है। आरएफ चिप्स और आमतौर पर गणना की जाती है।.

परीक्षण सेटअप और कार्यान्वयन

IMD परीक्षण के लिए एक द्वि-स्वर उत्तेजना संकेत की आवश्यकता होती है, जिसे एक पावर कॉम्बाइनर का उपयोग करके संयोजित किया जाता है और उसमें फीड किया जाता है। आरएफ चिप. NI-RFSA सॉफ़्टवेयर का फ्रंट पैनल विशेष मापन कार्य प्रदान करता है जो स्वचालित रूप से मूल आवृत्ति और तीसरे क्रम के विकृति उत्पादों की पहचान करता है, IMD अनुपात और IP3 की गणना करता है। यह एकीकृत समाधान परीक्षण प्रक्रिया को बहुत सरल बना देता है। आरएफ चिप्स.

4. परीक्षण समाधानों की तुलना और सारांश
परीक्षण आइटमप्रयोगशाला समाधानथोक उत्पादन समाधानमुख्य लाभ
समय बदलेंउच्च-बैंडविड्थ ऑसिलोस्कोपPXI डिजिटल मोड एनालाइज़र + VSTउच्च समकालिकता, कम लागत
हार्मोनिक परीक्षणसंकेत विश्लेषकवीएसटी + उच्च-शक्ति मॉड्यूलउच्च शक्ति, उपकरणों का पुन: उपयोग
अंतर-मॉड्यूलेशन विरूपणपारंपरिक आरएफ उपकरणPXI आरएफ विश्लेषकस्वचालन, उच्च सटीकता

5G और IoT प्रौद्योगिकियों के तीव्र विकास के साथ, जटिलता की आरएफ चिप्स बढ़ता जा रहा है, और परीक्षण आवश्यकताएँ अधिक सख्त होती जा रही हैं। इस लेख में प्रस्तुत परीक्षण विधियाँ सटीकता और लागत के बीच प्रभावी रूप से संतुलन स्थापित करती हैं, साथ ही सुनिश्चित करती हैं आरएफ चिप प्रदर्शन, उत्पाद विकास और बड़े पैमाने पर उत्पादन के लिए विश्वसनीय समर्थन प्रदान करना।.

यवेट वू

यवेट वू – चिप अनुप्रयोग और बाज़ार विकास विशेषज्ञ यवेट वू एक बाज़ार-केंद्रित चिप अनुप्रयोग इंजीनियर हैं। उनकी मुख्य ज़िम्मेदारी बाज़ार की मांगों की गहराई से पड़ताल करना और उन्हें परिभाषित करना, और चिप डिज़ाइन से लेकर अंतिम अनुप्रयोगों तक, अपस्ट्रीम और डाउनस्ट्रीम उद्योग श्रृंखला में संसाधनों को कुशलतापूर्वक एकीकृत करके ग्राहकों की अत्यधिक विशेषीकृत और जटिल अंतिम-उत्पाद आवश्यकताओं को हल करना है। तकनीकी रुझानों और ग्राहक अनुप्रयोग परिदृश्यों की गहरी समझ का लाभ उठाते हुए, वह प्रौद्योगिकी और बाज़ार के बीच एक सेतु का महत्वपूर्ण कार्य करती हैं। वह बाज़ार की ज़रूरतों को सटीक तकनीकी विनिर्देशों में बदलने और जटिल तकनीकी समाधानों को स्पष्ट ग्राहक मूल्य में व्यक्त करने में निपुण हैं, यह सुनिश्चित करते हुए कि उत्पाद बाज़ार की ज़रूरतों को सटीक रूप से पूरा करें…

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