RFchips sind Kernbestandteile von Navigationsterminals und wirken sich direkt auf die Gesamtleistung von Terminalprodukten aus. Da die BeiDou-Satellitennavigationssystem immer mehr genutzt wird, steigt die Nachfrage nach RFchip Prüfung hat stark zugenommen. Herkömmliche Prüfverfahren können den steigenden Anforderungen an Effizienz und Präzision nicht mehr gerecht werden. Um dieser Herausforderung zu begegnen, wird in diesem Papier ein Automatisierte Testplattform für RF-Chips der Satellitennavigation, Dadurch werden sowohl die Effizienz als auch die Genauigkeit der Prüfung effektiv verbessert.

RFchip Plattform für automatisierte Tests: Hauptmerkmale

Die RFchip automatisierte Testplattform basiert auf den Prinzipien der Offenheit, Flexibilität und Skalierbarkeit. Es integriert Standardprüfgeräte wie z. B. Signalgeneratoren, Spektrumanalysatoren, und Vektor-Netzwerk-Analysatoren. Die Plattform nutzt programmierbare Stromversorgungen und spezielle Prüfvorrichtungen zur Unterstützung universelle Schnittstellen zum Testen verschiedener Modelle von RFchips.

Das Funktionsprinzip der Testplattform besteht in der Simulation der normalen Betriebsbedingungen von RFchips. Dies wird erreicht durch das Senden von SPI-Befehle zur Konfiguration der RFchip’den Betriebszustand des Systems, die Eingabe von Anregungssignalen und die Erfassung von Ausgangssignalen zur Leistungsbewertung.

Wichtige Leistungsindikatoren, die in RFchips getestet wurden

Die Plattform testet acht wichtige Leistungsindikatoren (KPIs) von RFchips, die für die Bewertung der Funktionalität und Qualität der Chips entscheidend sind. Diese KPIs umfassen:

Intermodulationsgrenzpunkt dritter Ordnung (IM3) am Eingang

Gesamtverstärkungsbereich

Bereich der Verstärkungsregelung

1 dB Kompressionspunkt Eingangsleistung

Rauschzahl

Phasenrauschen des Lokaloszillators

Bandexterne Unterdrückung

Bildunterdrückung

Zum Beispiel bei der Prüfung der Intermodulationsgrenzpunkt dritter Ordnung am Eingang, simuliert die Plattform eine nichtlineare Umgebung unter Verwendung von Dualsignaleingängen. Anschließend misst und berechnet sie die Linearität von RFchip Leistung mit hoher Präzision.

Testbeispiel: RX3701 RF-Chip

Um die Wirksamkeit der Plattform zu überprüfen, konstruierte das Forschungsteam ein Testsystem unter Verwendung der RX3701 Modell RFchip. Diese RFchip unterstützt mehrere Satellitennavigationssysteme, bietet einen großen Frequenzbereich und eignet sich für verschiedene hochpräzise Anwendungen.

Die Testergebnisse zeigten, dass die RX3701 RF-Chip alle Designvorgaben erfüllt. Insbesondere die Intermodulationsgrenzpunkt dritter Ordnung am Eingang war 28,391 dBm, die Gesamtverstärkungsbereich war 72.318 dB, und die Rauschzahl war 8,866 dB, und zeigt eine hervorragende HF-Leistung.

Effiziente, automatisierte Tests für RF-Chips

Die automatisierte Testplattform verwendet Testvorlagen um einen Ein-Klick-Prüfprozess zu ermöglichen, der den Bedarf an manuellen Eingriffen erheblich reduziert. Dies steigert sowohl die Effizienz als auch die Konsistenz der RFchip Testen. In Zukunft kann die Plattform weiter ausgebaut werden, um den Testbedarf verschiedener RFchip Typen, Förderung der Entwicklung von standardisierten und intelligenten Tests für RFchips.