RFchips 는 내비게이션 단말기의 핵심 부품으로, 단말기 제품의 전반적인 성능에 직접적인 영향을 미칩니다. 따라서 BeiDou 위성 내비게이션 시스템 가 더 널리 사용됨에 따라 RFchip 테스트가 급증했습니다. 기존의 테스트 방법으로는 더 이상 높은 효율성과 정밀도에 대한 증가하는 요구 사항을 충족할 수 없습니다. 이 문제를 해결하기 위해 이 백서에서는 다음과 같은 방법을 설계하고 구현합니다. 위성 항법 RF칩을 위한 자동화된 테스트 플랫폼, 를 사용하여 테스트 효율성과 정확성을 모두 효과적으로 개선합니다.

RFchip 자동화 테스트 플랫폼: 주요 기능

그리고 RFchip 자동화된 테스트 플랫폼은 다음과 같은 원칙에 따라 설계되었습니다. 개방성, 유연성 및 확장성. 다음과 같은 표준 테스트 장비를 통합합니다. 신호 발생기, 스펙트럼 분석기, 및 벡터 네트워크 분석기. 이 플랫폼은 프로그래밍 가능한 전원 공급 장치와 특수 테스트 픽스처를 사용하여 다음을 지원합니다. 범용 인터페이스 의 다양한 모델을 테스트하기 위해 RFchips.

테스트 플랫폼의 작동 원리는 다음과 같은 정상적인 작동 조건을 시뮬레이션하는 데 중점을 둡니다. RFchips. 이를 달성하기 위해 SPI 명령 을 사용하여 RFchip’의 작동 상태, 여기 신호 입력, 성능 평가를 위한 출력 신호 수집을 수행합니다.

RF칩에서 테스트한 주요 성능 지표

플랫폼 테스트 8가지 핵심 성과 지표 (KPI)의 RFchips, 는 칩의 기능과 품질을 평가하는 데 중요한 역할을 합니다. 이러한 KPI에는 다음이 포함됩니다:

입력 3차 상호 변조(IM3) 컷오프 지점

총 게인 범위

게인 제어 범위

1dB 압축 포인트 입력 전력

소음 수치

로컬 발진기 위상 잡음

대역 외 억제

이미지 억제

예를 들어, 테스트에서 입력 3차 상호 변조 컷오프 지점, 플랫폼은 이중 신호 입력을 사용하여 비선형 환경을 시뮬레이션합니다. 그런 다음 RFchip의 선형성 높은 정밀도로 성능을 발휘합니다.

테스트 예제: RX3701 RF칩

플랫폼의 효과를 검증하기 위해 연구팀은 다음을 사용하여 테스트 시스템을 구축했습니다. RX3701 모델 RFchip. 이 RFchip 는 여러 위성 내비게이션 시스템을 지원하고 넓은 주파수 범위를 제공하며 다양한 고정밀 애플리케이션에 적합합니다.

테스트 결과 RX3701 RF칩 는 모든 디자인 사양을 충족했습니다. 특히 입력 3차 상호 변조 컷오프 지점 는 28.391 dBm, 에서 총 이득 범위 는 72.318 dB, 및 노이즈 수치 는 8.866 dB, 를 통해 뛰어난 RF 성능을 입증했습니다.

RF칩을 위한 효율적이고 자동화된 테스트

자동화된 테스트 플랫폼은 다음을 사용합니다. 테스트 템플릿 를 사용하여 원클릭 테스트 프로세스를 구현하여 수동 개입의 필요성을 크게 줄였습니다. 이를 통해 다음과 같은 효율성과 일관성이 모두 향상됩니다. RFchip 테스트. 앞으로 이 플랫폼은 다양한 테스트 요구 사항을 수용하도록 더욱 확장될 수 있습니다. RFchip 유형에 대한 표준화되고 지능적인 테스트 개발을 촉진합니다. RFchips.