Einführung

HF-Chips spielen als Kernkomponenten von Satellitennavigationsgeräten eine entscheidende Rolle bei der Bestimmung der Genauigkeit, der Störfestigkeit und der Kommunikationszuverlässigkeit von Navigationssystemen. Mit dem umfassenden Service und der Industrialisierung des chinesischen Beidou-Satellitennavigationssystems sind die Effizienz und die Standardisierung der RF-Chip-Prüfung zu Schlüsselfaktoren für die Entwicklung der Industriekette geworden. In den letzten Jahren sind die Automatisierungstechnologien für die Prüfung von HF-Chips ausgereift und bieten praktikable Lösungen zur Überwindung der traditionellen Herausforderungen wie geringe Effizienz und mangelnde Konsistenz bei der Prüfung.

Herausforderungen beim RF-Chip-Test und die Rolle der Automatisierung

Die Prüfung von HF-Chips steht vor zwei großen Herausforderungen: erstens die große Bandbreite der Prüfprojekte, einschließlich Verstärkung, Rauschen, Linearität und Phasenrauschen, und zweitens der komplexe Prüfprozess, der hohe Anforderungen an die Gerätesteuerung, Signalerfassung und Datenanalyse stellt. Herkömmliche manuelle Prüfmethoden reichen nicht mehr aus, um den wachsenden Anforderungen an hochpräzise und hochvolumige Prüfungen gerecht zu werden, da die Integration von HF-Chips zunimmt und die Anwendungsszenarien vielfältiger werden.

In diesem Zusammenhang ist der Aufbau einer standardisierten, skalierbaren RF-Chip-Automatisierungstestplattform zu einer entscheidenden Grundlage für die Förderung der Industrialisierung von RF-Chips und die Unterstützung der großflächigen Anwendung von Beidou-Terminals geworden.

Optimierte Plattform für Automatisierungstests für RF-Chips

Um den Testanforderungen von RF-Chips für die Satellitennavigation gerecht zu werden, haben Forscher eine automatisierte Testplattform entwickelt, die auf den Prinzipien der Offenheit, Flexibilität und Skalierbarkeit basiert. Dieses System integriert Standardinstrumente wie Signalgeneratoren, Spektrumanalysatoren und Vektornetzwerkanalysatoren und verbindet sie durch programmierbare Stromversorgungen, Testvorrichtungen und Kommunikationsnetzwerke. Die Software steuert die Automatisierung des Testprozesses.

Das Hauptmerkmal dieser Testplattform ist der “Testvorlagen”-Mechanismus. Die Benutzer können die Testelemente und -parameter auf der Grundlage der Anforderungen der verschiedenen HF-Chips einfach bearbeiten. Das System schließt dann automatisch den gesamten Prozess ab - von der Signalanregung über die Datenerfassung bis hin zur Ergebnisanalyse - und verbessert damit sowohl die Testeffizienz als auch die Konsistenz erheblich. Bei der Messung des Eingangspunktes dritter Ordnung (IP3) kann das System beispielsweise den Zweifrequenzsignaleingang präzise steuern, automatisch den Zwischenfrequenzausgang und die Intermodulationssignalleistung messen und Linearitätsindikatoren auf der Grundlage von Formeln berechnen - alles ohne manuellen Eingriff.

Versuchsergebnisse und Standardisierung von RF-Chip-Tests

Um die Praxistauglichkeit dieses automatischen Testsystems zu überprüfen, führte das Forschungsteam umfassende Tests mit dem RX3701 RF-Chip durch, der Multisystemfunktionen wie Beidou und GPS unterstützt. Dabei wurden acht Schlüsselindikatoren getestet, darunter die Intermodulation dritter Ordnung am Eingang, der Verstärkungsbereich, die Rauschzahl und die Unterdrückung von Störungen außerhalb des Frequenzbands. Die Ergebnisse zeigten, dass alle getesteten Elemente die vorgegebenen Kriterien erfüllten, wobei einige Leistungen sogar die Designanforderungen übertrafen. Dies bestätigte die Zuverlässigkeit des automatisierten Prüfsystems für hochpräzise und wiederholbare Aufgaben.

Diese Errungenschaft zeigt nicht nur die Reife der automatisierten RF-Chip-Prüftechnologie, sondern bietet der Branche auch wiederverwendbare Prüfmethoden und standardisierte Prozesse. Sie ist von großer Bedeutung für die Förderung der Standardisierung und Qualitätsverbesserung von Chinas RF-Chips für die Satellitennavigation.

Schlussfolgerung: RF-Chips mit Automatisierungstests ausstatten, um eine solide Grundlage für die Zukunft von Beidou zu schaffen

Als “Front-End-Sensor” von Navigationssystemen ist die Leistungsprüfung von HF-Chips durch Automatisierung und Standardisierung von entscheidender Bedeutung, um den zuverlässigen Betrieb und den großflächigen Einsatz von Endgeräten zu gewährleisten. Da sich die Anwendungsszenarien für Beidou weiter ausweiten - von der Fahrzeugnavigation über die Kommunikation in geringer Höhe und die Präzisionslandwirtschaft bis hin zur Notfallrettung - wird die Nachfrage nach HF-Chip-Tests weiter steigen. Die Förderung und Anwendung automatisierter Testplattformen wird Chinas RF-Chip-Industrie beim Übergang von “selbstgesteuerten” zu “hochwertigen Ergebnissen” stark unterstützen und eine solide Grundlage für die Entwicklung eines sicheren und zuverlässigen Ökosystems für die Satellitennavigation schaffen.