ดร. เจสัน เฉิน – ผู้เชี่ยวชาญด้านการตรวจสอบหลังการผลิตซิลิคอนและการทำงานอัตโนมัติ

ดร. เจสัน เฉิน เป็นผู้เชี่ยวชาญมากประสบการณ์ในด้านการทดสอบเซมิคอนดักเตอร์ โดยมีความเชี่ยวชาญในการพัฒนาโซลูชันการทดสอบอัตโนมัติขั้นสูงสำหรับแอปพลิเคชันสัญญาณผสม, อุปกรณ์แอนะล็อกแบบแยก, MCU และ SoC เขานำประสบการณ์อันกว้างขวางจากผู้ผลิตเครื่องมือชั้นนำมาหลายปี ครอบคลุมการพัฒนาโซลูชันแอปพลิเคชัน, การทำให้การทดสอบในห้องปฏิบัติการเป็นอัตโนมัติ, การเพิ่มกำลังการผลิต และการย้ายแพลตฟอร์มการทดสอบ.

ดร. เฉิน มีความเข้าใจอย่างลึกซึ้งเกี่ยวกับบทบาทสำคัญของการตรวจสอบหลังการผลิตซิลิกอนที่มีต่อการผลิตชิปคุณภาพสูง กระบวนการที่ครอบคลุมนี้รวมถึงการเริ่มต้นใช้งาน การตรวจสอบประสิทธิภาพ การทดสอบความทนทาน การวิเคราะห์ลักษณะเฉพาะ การพัฒนาผลิตภัณฑ์ใหม่สำหรับอุปกรณ์ทดสอบ (ATE NPI) และการทดสอบความน่าเชื่อถือเขามุ่งมั่นที่จะพัฒนาวิธีการตรวจสอบความถูกต้องหลังการผลิตซิลิคอนโดยการส่งเสริมการทำงานร่วมกันออนไลน์ระหว่างทีมต่างๆ การนำระบบอัตโนมัติและการเพิ่มประสิทธิภาพของกระบวนการทำงานแบบครบวงจรมาใช้ การจัดตั้งการกำกับดูแลข้อมูลแบบรวมศูนย์ การวิเคราะห์และรายงานข้อมูลโดยอัตโนมัติ และการสำรวจการประยุกต์ใช้เทคโนโลยี AI กับข้อมูลการทดสอบเพื่อเพิ่มประสิทธิภาพและข้อมูลเชิงลึกของผลิตภัณฑ์ ในฐานะผู้เชี่ยวชาญที่ Monolithic Wave Technologies เขากำลังนำความรู้ที่ลึกซึ้งของเขาไปประยุกต์ใช้เพื่อผสานรวมซอฟต์แวร์และเทคโนโลยีดิจิทัลที่ล้ำสมัยเข้ากับกระบวนการทำงานด้านเซมิคอนดักเตอร์ในทางปฏิบัติเพื่อส่งมอบโซลูชันที่เหนือกว่าให้กับลูกค้า.

สมรรถนะหลัก:

• การพัฒนาโซลูชันการทดสอบอัตโนมัติสำหรับสัญญาณผสม/อนาล็อก/RF/SoC

• การตรวจสอบความถูกต้องตั้งแต่ต้นจนจบหลังการผลิตชิป (การตรวจสอบในห้องปฏิบัติการ, การพัฒนาผลิตภัณฑ์ใหม่สำหรับเครื่องทดสอบ, ความน่าเชื่อถือ)

• การวิเคราะห์ข้อมูลทดสอบ, การรายงานอัตโนมัติ และการกำกับดูแลข้อมูล

• สถาปัตยกรรมและบูรณาการระบบทดสอบข้ามแพลตฟอร์ม

• การแปลงกระบวนการทำงานของเซมิคอนดักเตอร์ให้เป็นดิจิทัลและอัจฉริยะ