{"id":1430,"date":"2025-10-13T00:49:10","date_gmt":"2025-10-13T00:49:10","guid":{"rendered":"https:\/\/www.wallisemi.com\/?p=1430"},"modified":"2025-10-15T00:52:13","modified_gmt":"2025-10-15T00:52:13","slug":"permitir-o-ensaio-eficiente-de-circuitos-integrados-de-radiofrequencia-com-sistemas-ate-promovendo-a-autonomia-do-sector-da-navegacao-por-satelite","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/blog\/industry-insights\/empowering-efficient-testing-of-rf-chips-with-ate-systems-advancing-the-satellite-navigation-industrys-autonomy\/","title":{"rendered":"Capacitar o teste eficiente de chips de RF com sistemas ATE: Avan\u00e7ar a autonomia da ind\u00fastria de navega\u00e7\u00e3o por sat\u00e9lite"},"content":{"rendered":"

Introdu\u00e7\u00e3o<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Os chips RF s\u00e3o os principais componentes que recebem sinais nos terminais de navega\u00e7\u00e3o por sat\u00e9lite, influenciando diretamente a precis\u00e3o do posicionamento e a qualidade da comunica\u00e7\u00e3o. \u00c0 medida que o Sistema Global de Navega\u00e7\u00e3o por Sat\u00e9lite (GNSS) \u00e9 cada vez mais adotado em todo o mundo, a efici\u00eancia e a precis\u00e3o dos ensaios de chips RF tornaram-se factores-chave para garantir a fiabilidade e a capacidade de produ\u00e7\u00e3o em massa dos produtos terminais. Nos \u00faltimos anos, as solu\u00e7\u00f5es de ensaio de circuitos integrados de radiofrequ\u00eancia baseadas em sistemas de equipamento de ensaio autom\u00e1tico (ATE) surgiram como uma importante via tecnol\u00f3gica para melhorar a cobertura e a efici\u00eancia dos ensaios.<\/p>\n\n\n\n

Desafios do teste de chips de RF: Arquitecturas complexas e par\u00e2metros diversos<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Os chips de RF para navega\u00e7\u00e3o por sat\u00e9lite s\u00e3o normalmente constitu\u00eddos por m\u00f3dulos como o front-end de RF, misturadores, osciladores controlados por tens\u00e3o, loops bloqueados por fase, filtros de frequ\u00eancia interm\u00e9dia, controladores de ganho e conversores anal\u00f3gico-digitais. Estes chips s\u00e3o respons\u00e1veis por fun\u00e7\u00f5es cr\u00edticas como a rece\u00e7\u00e3o de sinais, a convers\u00e3o de frequ\u00eancias, a amplifica\u00e7\u00e3o e a transmiss\u00e3o. Embora as bandas de frequ\u00eancia e os formatos de mensagem possam diferir entre os sistemas de navega\u00e7\u00e3o dos pa\u00edses, a arquitetura b\u00e1sica dos chips RF mant\u00e9m-se consistente. As principais m\u00e9tricas de desempenho incluem a figura de ru\u00eddo, o ponto de compress\u00e3o de 1dB de entrada, o ru\u00eddo de fase, a rejei\u00e7\u00e3o de imagem e o nivelamento em banda.<\/p>\n\n\n\n

Com a crescente integra\u00e7\u00e3o e complexidade dos chips de RF, os m\u00e9todos tradicionais de teste manual baseados em instrumentos discretos, como analisadores de espetro e geradores de sinal, j\u00e1 n\u00e3o s\u00e3o suficientes para satisfazer as exig\u00eancias da produ\u00e7\u00e3o em massa e da valida\u00e7\u00e3o de alta precis\u00e3o. Quest\u00f5es como processos de teste complicados, baixa fiabilidade do sistema e cobertura limitada dificultam significativamente a investiga\u00e7\u00e3o, o desenvolvimento e a industrializa\u00e7\u00e3o de chips de RF.<\/p>\n\n\n\n

Plataforma de teste integrada para chips de RF: Avalia\u00e7\u00e3o eficiente e precisa com sistemas ATE<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Para enfrentar estes desafios, a equipa de investiga\u00e7\u00e3o prop\u00f4s uma plataforma integrada e automatizada de teste de chips de RF constru\u00edda em torno do sistema ATE. Esta plataforma combina fontes de sinal de RF de alta precis\u00e3o, analisadores de espetro e comunica\u00e7\u00e3o de barramento GPIB\/VXI para tirar o m\u00e1ximo partido das capacidades do ATE em termos de controlo digital, gest\u00e3o de energia, aquisi\u00e7\u00e3o e an\u00e1lise de sinais. Permite a realiza\u00e7\u00e3o de testes num \u00fanico local para v\u00e1rios par\u00e2metros de chips de RF.<\/p>\n\n\n\n

Durante o processo de teste, o sistema configura os registos do chip RF atrav\u00e9s de uma interface SPI, define diferentes modos de funcionamento e controla a fonte de sinal RF para introduzir sinais de excita\u00e7\u00e3o. Em seguida, equipamentos como analisadores de espetro recolhem e analisam os sinais de sa\u00edda. Por exemplo, ao testar o ru\u00eddo de fase e o ponto de compress\u00e3o de 1dB de entrada, o sistema efectua automaticamente varrimentos de frequ\u00eancia, medi\u00e7\u00f5es de pot\u00eancia e ajuste de dados para gerar rapidamente resultados de avalia\u00e7\u00e3o, melhorando consideravelmente a consist\u00eancia e a repetibilidade.<\/p>\n\n\n\n

Os dados experimentais confirmam a fiabilidade dos sistemas ATE para o ensaio de chips de RF<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Para validar o desempenho do sistema de teste baseado em ATE, a equipa de investiga\u00e7\u00e3o realizou testes de par\u00e2metros abrangentes em v\u00e1rios chips de RF de navega\u00e7\u00e3o GPS. Os resultados mostraram que os principais indicadores, incluindo a largura de banda do filtro, o ponto de compress\u00e3o de 1dB de entrada, o ru\u00eddo de fase, a figura de ru\u00eddo e a rejei\u00e7\u00e3o de imagem, corresponderam \u00e0s expectativas do projeto. O sistema demonstrou excelente estabilidade e consist\u00eancia em diferentes amostras.<\/p>\n\n\n\n

Este feito demonstra que as solu\u00e7\u00f5es de teste de chips RF baseadas em ATE n\u00e3o s\u00f3 satisfazem os requisitos de medi\u00e7\u00e3o de alta precis\u00e3o, como tamb\u00e9m suportam a integra\u00e7\u00e3o com dispositivos perif\u00e9ricos, tais como unidades de controlo de alta\/baixa temperatura e alimentadores mec\u00e2nicos. Isto permite a realiza\u00e7\u00e3o de ensaios automatizados em todas as gamas de temperatura e a produ\u00e7\u00e3o de lotes em grande escala, proporcionando um apoio t\u00e9cnico fi\u00e1vel para a produ\u00e7\u00e3o em massa e o controlo de qualidade de chips de RF.<\/p>\n\n\n\n

Conclus\u00e3o: Os testes de automatiza\u00e7\u00e3o impulsionam a atualiza\u00e7\u00e3o dos chips de RF e lan\u00e7am as bases para o futuro dos terminais de navega\u00e7\u00e3o<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Como \u201cporta de entrada de sinal\u201d dos sistemas de navega\u00e7\u00e3o, a efici\u00eancia e a qualidade dos testes dos chips de RF t\u00eam um impacto direto na competitividade de toda a ind\u00fastria de terminais. A introdu\u00e7\u00e3o de sistemas ATE marca uma mudan\u00e7a da \u201copera\u00e7\u00e3o manual\u201d para a \u201cintegra\u00e7\u00e3o de sistemas\u201d no teste de chips RF, e da \u201cmedi\u00e7\u00e3o de ponto \u00fanico\u201d para a \u201ccobertura abrangente de par\u00e2metros\u201d. Esta transi\u00e7\u00e3o estabelece uma base s\u00f3lida para a autonomia, normaliza\u00e7\u00e3o e desenvolvimento de alta qualidade dos chips RF de navega\u00e7\u00e3o por sat\u00e9lite da China.<\/p>\n\n\n\n

Com a implanta\u00e7\u00e3o generalizada do sistema Beidou de terceira gera\u00e7\u00e3o e o r\u00e1pido desenvolvimento da Internet por sat\u00e9lite de baixa \u00f3rbita, os circuitos integrados de radiofrequ\u00eancia desempenhar\u00e3o um papel fundamental em cen\u00e1rios de alta precis\u00e3o e alta din\u00e2mica. As solu\u00e7\u00f5es de ensaio automatizadas e baseadas em plataformas tornar-se-\u00e3o um motor crucial para a inova\u00e7\u00e3o tecnol\u00f3gica e a aplica\u00e7\u00e3o industrial no desenvolvimento de circuitos integrados RF.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Introduction RF chips are the core components that receive signals in satellite navigation terminals, directly influencing the accuracy of positioning and the quality of communication. As the Global Navigation Satellite System (GNSS) is increasingly adopted worldwide, the efficiency and accuracy of RF chip testing have become key factors in ensuring the reliability and mass production […]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1426,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[30,31],"tags":[36],"class_list":["post-1430","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-insights","category-blog","tag-yvette-wu"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1430","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1430"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1430\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1431,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1430\/revisions\/1431"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1426"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1430"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1430"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1430"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}