{"id":1425,"date":"2025-10-13T00:31:28","date_gmt":"2025-10-13T00:31:28","guid":{"rendered":"https:\/\/www.wallisemi.com\/?p=1425"},"modified":"2025-10-15T00:45:46","modified_gmt":"2025-10-15T00:45:46","slug":"avancos-nos-ensaios-de-automatizacao-de-circuitos-integrados-de-radiofrequencia-que-permitem-o-desenvolvimento-de-alta-qualidade-da-industria-de-navegacao-beidou","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/blog\/industry-insights\/advancements-in-rf-chip-automation-testing-empowering-the-high-quality-development-of-the-beidou-navigation-industry\/","title":{"rendered":"Avan\u00e7os nos testes de automatiza\u00e7\u00e3o de chips RF: Potenciar o desenvolvimento de alta qualidade da ind\u00fastria de navega\u00e7\u00e3o Beidou"},"content":{"rendered":"

Introdu\u00e7\u00e3o<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Os chips RF, como componentes centrais dos terminais de navega\u00e7\u00e3o por sat\u00e9lite, desempenham um papel cr\u00edtico na determina\u00e7\u00e3o da precis\u00e3o, capacidade anti-interfer\u00eancia e fiabilidade da comunica\u00e7\u00e3o dos sistemas de navega\u00e7\u00e3o. Com o servi\u00e7o abrangente e a industrializa\u00e7\u00e3o do sistema de navega\u00e7\u00e3o por sat\u00e9lite Beidou da China, a efici\u00eancia e a normaliza\u00e7\u00e3o dos testes de chips RF tornaram-se factores-chave no desenvolvimento da cadeia industrial. Nos \u00faltimos anos, as tecnologias de automatiza\u00e7\u00e3o de testes para chips RF amadureceram, oferecendo solu\u00e7\u00f5es vi\u00e1veis para superar os desafios tradicionais de baixa efici\u00eancia e pouca consist\u00eancia nos testes.<\/p>\n\n\n\n

Desafios no teste de chips de RF e o papel da automa\u00e7\u00e3o<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Os testes de chips de RF enfrentam dois grandes desafios: em primeiro lugar, a vasta gama de projectos de teste, incluindo ganho, ru\u00eddo, linearidade e ru\u00eddo de fase; e, em segundo lugar, o complexo processo de teste, que exige elevados padr\u00f5es de controlo de instrumentos, aquisi\u00e7\u00e3o de sinais e an\u00e1lise de dados. Os m\u00e9todos tradicionais de teste manual j\u00e1 n\u00e3o s\u00e3o suficientes para satisfazer a crescente procura de testes de alta precis\u00e3o e de grande volume, \u00e0 medida que a integra\u00e7\u00e3o de chips de RF aumenta e os cen\u00e1rios de aplica\u00e7\u00e3o se diversificam.<\/p>\n\n\n\n

Neste contexto, a constru\u00e7\u00e3o de uma plataforma de testes de automa\u00e7\u00e3o de chips RF padronizada e escal\u00e1vel tornou-se uma base crucial para promover a industrializa\u00e7\u00e3o de chips RF e apoiar a aplica\u00e7\u00e3o em larga escala de terminais Beidou.<\/p>\n\n\n\n

Plataforma de teste de automa\u00e7\u00e3o otimizada para chips de RF<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Para satisfazer os requisitos de teste de chips de RF de navega\u00e7\u00e3o por sat\u00e9lite, os investigadores conceberam uma plataforma de teste de automa\u00e7\u00e3o baseada em princ\u00edpios de abertura, flexibilidade e escalabilidade. Este sistema integra instrumentos padr\u00e3o, como geradores de sinal, analisadores de espetro e analisadores de rede vectoriais, ligando-os atrav\u00e9s de fontes de alimenta\u00e7\u00e3o program\u00e1veis, dispositivos de teste e redes de comunica\u00e7\u00e3o. O software controla a automatiza\u00e7\u00e3o do processo de teste.<\/p>\n\n\n\n

A principal carater\u00edstica desta plataforma de teste \u00e9 o seu mecanismo de \u201cmodelo de teste\u201d. Os utilizadores podem facilmente editar itens e par\u00e2metros de teste com base nos requisitos de diferentes chips RF. O sistema completa automaticamente todo o processo - desde a excita\u00e7\u00e3o do sinal e aquisi\u00e7\u00e3o de dados at\u00e9 \u00e0 an\u00e1lise dos resultados - melhorando significativamente a efici\u00eancia e a consist\u00eancia dos testes. Por exemplo, ao medir o ponto de interce\u00e7\u00e3o de terceira ordem de entrada (IP3), o sistema pode controlar com precis\u00e3o a entrada de sinal de frequ\u00eancia dupla, medir automaticamente a sa\u00edda de frequ\u00eancia interm\u00e9dia e a pot\u00eancia do sinal de intermodula\u00e7\u00e3o e calcular indicadores de linearidade com base em f\u00f3rmulas, tudo isto sem interven\u00e7\u00e3o manual.<\/p>\n\n\n\n

Resultados de experi\u00eancias e normaliza\u00e7\u00e3o de testes de chips de RF<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Para verificar a praticabilidade deste sistema de teste automatizado, a equipa de investiga\u00e7\u00e3o realizou testes abrangentes no chip RF RX3701, que suporta opera\u00e7\u00f5es multi-sistema como Beidou e GPS. Testaram oito indicadores-chave, incluindo intermodula\u00e7\u00e3o de terceira ordem de entrada, gama de ganho, figura de ru\u00eddo e supress\u00e3o fora de banda. Os resultados demonstraram que todos os itens testados cumpriam os crit\u00e9rios predefinidos, com algum desempenho a exceder mesmo os requisitos de conce\u00e7\u00e3o. Isto confirmou a fiabilidade do sistema de teste automatizado para tarefas de alta precis\u00e3o e alta repetibilidade.<\/p>\n\n\n\n

Esta conquista n\u00e3o s\u00f3 demonstra a maturidade da tecnologia de teste de automa\u00e7\u00e3o de chips RF, mas tamb\u00e9m fornece \u00e0 ind\u00fastria m\u00e9todos de teste reutiliz\u00e1veis e processos padronizados. Tem uma import\u00e2ncia significativa para promover a normaliza\u00e7\u00e3o e a melhoria da qualidade dos chips RF de navega\u00e7\u00e3o por sat\u00e9lite da China.<\/p>\n\n\n\n

Conclus\u00e3o: Capacitar os chips de RF com testes de automa\u00e7\u00e3o para construir uma base s\u00f3lida para o futuro do Beidou<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Como \u201csensor frontal\u201d dos sistemas de navega\u00e7\u00e3o, o teste de desempenho dos chips RF atrav\u00e9s da automatiza\u00e7\u00e3o e normaliza\u00e7\u00e3o \u00e9 crucial para garantir o funcionamento fi\u00e1vel e a implanta\u00e7\u00e3o em grande escala dos dispositivos terminais. Como os cen\u00e1rios de aplica\u00e7\u00e3o do Beidou continuam a expandir-se - desde a navega\u00e7\u00e3o em ve\u00edculos \u00e0s comunica\u00e7\u00f5es a baixa altitude, da agricultura de precis\u00e3o ao salvamento de emerg\u00eancia - a procura de testes de chips RF continuar\u00e1 a crescer. A promo\u00e7\u00e3o e a aplica\u00e7\u00e3o de plataformas de ensaio automatizadas apoiar\u00e3o fortemente a ind\u00fastria chinesa de circuitos integrados de radiofrequ\u00eancia na transi\u00e7\u00e3o do \u201cautocontrolo\u201d para a \u201cprodu\u00e7\u00e3o de alta qualidade\u201d, estabelecendo uma base s\u00f3lida para o desenvolvimento de um ecossistema de navega\u00e7\u00e3o por sat\u00e9lite seguro e fi\u00e1vel.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Introduction RF chips, as the core components of satellite navigation terminals, play a critical role in determining the accuracy, anti-interference ability, and communication reliability of navigation systems. With the comprehensive service and industrialization of China\u2019s Beidou Satellite Navigation System, the efficiency and standardization of RF chip testing have become key factors in the development of […]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1428,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[30,31],"tags":[36],"class_list":["post-1425","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-insights","category-blog","tag-yvette-wu"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1425","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1425"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1425\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1429,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1425\/revisions\/1429"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1428"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1425"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1425"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1425"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}