{"id":1375,"date":"2025-10-10T01:23:47","date_gmt":"2025-10-10T01:23:47","guid":{"rendered":"https:\/\/www.wallisemi.com\/?p=1375"},"modified":"2025-10-13T01:30:07","modified_gmt":"2025-10-13T01:30:07","slug":"concecao-e-implementacao-de-uma-plataforma-de-ensaio-automatizada-para-rfchips-de-navegacao-por-satelite","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/blog\/industry-insights\/design-and-implementation-of-an-automated-testing-platform-for-satellite-navigation-rfchips\/","title":{"rendered":"Conce\u00e7\u00e3o e implementa\u00e7\u00e3o de uma plataforma de ensaio automatizada para RFchips de navega\u00e7\u00e3o por sat\u00e9lite"},"content":{"rendered":"<p><strong>Fichas RF<\/strong>&nbsp;s\u00e3o componentes essenciais dos terminais de navega\u00e7\u00e3o, afectando diretamente o desempenho global dos produtos terminais. Como o <strong>Sistema de navega\u00e7\u00e3o por sat\u00e9lite BeiDou<\/strong>&nbsp;se torna mais utilizado, a procura de <strong>RFchip<\/strong>&nbsp;Os ensaios de qualidade aumentaram. Os m\u00e9todos de ensaio tradicionais j\u00e1 n\u00e3o conseguem satisfazer os requisitos crescentes de elevada efici\u00eancia e precis\u00e3o. Para responder a este desafio, este documento concebe e implementa um <strong>plataforma de ensaio automatizado para chips de RF de navega\u00e7\u00e3o por sat\u00e9lite<\/strong>, melhorando efetivamente a efici\u00eancia e a precis\u00e3o dos testes.<\/p>\n\n\n\n<h5 class=\"wp-block-heading\"><strong>Plataforma de testes automatizados RFchip: Principais carater\u00edsticas<\/strong><strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n<p>O <strong>RFchip<\/strong>&nbsp;A plataforma de testes automatizados foi concebida com base nos princ\u00edpios de <strong>abertura, flexibilidade e escalabilidade<\/strong>. Integra instrumentos de teste padr\u00e3o, tais como <strong>geradores de sinais<\/strong>, <strong>analisadores de espetro<\/strong>, e <strong>analisadores de rede vectoriais<\/strong>. A plataforma utiliza fontes de alimenta\u00e7\u00e3o program\u00e1veis e dispositivos de teste especializados para suportar <strong>interfaces universais<\/strong>&nbsp;para testar v\u00e1rios modelos de <strong>Fichas RF<\/strong>.<\/p>\n\n\n\n<p>O princ\u00edpio de funcionamento da plataforma de ensaio consiste em simular as condi\u00e7\u00f5es normais de funcionamento de <strong>Fichas RF<\/strong>. Para o efeito, envia <strong>Comandos SPI<\/strong>&nbsp;para configurar o <strong>RFchip<\/strong>\u2019O sistema de controlo do estado de funcionamento do sistema de controlo de qualidade da empresa, introduzindo sinais de excita\u00e7\u00e3o e recolhendo sinais de sa\u00edda para avalia\u00e7\u00e3o do desempenho.<\/p>\n\n\n\n<h5 class=\"wp-block-heading\"><strong>Indicadores-chave de desempenho testados em RFchips<\/strong><strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n<p>A plataforma testa <strong>oito indicadores-chave de desempenho<\/strong>&nbsp;(KPIs) de <strong>Fichas RF<\/strong>, que s\u00e3o fundamentais para avaliar a funcionalidade e a qualidade das pastilhas. Estes KPIs incluem:<\/p>\n\n\n\n<p><strong>Ponto de corte de intermodula\u00e7\u00e3o de terceira ordem de entrada (IM3)<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>Gama de ganho total<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>Gama de controlo de ganho<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>Pot\u00eancia de entrada do ponto de compress\u00e3o de 1 dB<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>\u00cdndice de ru\u00eddo<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>Ru\u00eddo de fase do oscilador local<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>Supress\u00e3o fora de banda<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>Supress\u00e3o de imagens<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p>Por exemplo, ao testar o <strong>ponto de corte de intermodula\u00e7\u00e3o de terceira ordem de entrada<\/strong>, A plataforma simula um ambiente n\u00e3o linear utilizando entradas de sinal duplo. Em seguida, mede e calcula o <strong>Linearidade do RFchip<\/strong>&nbsp;desempenho com elevada precis\u00e3o.<\/p>\n\n\n\n<h5 class=\"wp-block-heading\"><strong>Exemplo de teste: Chip de RF RX3701<\/strong><strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n<p>Para validar a efic\u00e1cia da plataforma, a equipa de investiga\u00e7\u00e3o construiu um sistema de teste utilizando o <strong>RFchip modelo RX3701<\/strong>. Este <strong>RFchip<\/strong>&nbsp;suporta m\u00faltiplos sistemas de navega\u00e7\u00e3o por sat\u00e9lite, oferece uma vasta gama de frequ\u00eancias e \u00e9 adequado para v\u00e1rias aplica\u00e7\u00f5es de alta precis\u00e3o.<\/p>\n\n\n\n<p>Os resultados dos testes mostraram que o <strong>RX3701 RFchip<\/strong>&nbsp;cumpriu todas as especifica\u00e7\u00f5es do projeto. Nomeadamente, o <strong>ponto de corte de intermodula\u00e7\u00e3o de terceira ordem de entrada<\/strong>&nbsp;era <strong>28,391 dBm<\/strong>, o <strong>gama de ganho total<\/strong>&nbsp;era <strong>72,318 dB<\/strong>, e o <strong>valor de ru\u00eddo<\/strong>&nbsp;era <strong>8,866 dB<\/strong>, demonstrando um excelente desempenho de RF.<\/p>\n\n\n\n<h5 class=\"wp-block-heading\"><strong>Testes eficientes e automatizados para chips de RF<\/strong><strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n<p>A plataforma de testes automatizados utiliza <strong>modelos de teste<\/strong>&nbsp;para permitir um processo de teste com um s\u00f3 clique, reduzindo significativamente a necessidade de interven\u00e7\u00e3o manual. Este facto aumenta a efici\u00eancia e a consist\u00eancia do <strong>RFchip<\/strong>&nbsp;testes. No futuro, a plataforma pode ser expandida para acomodar as necessidades de teste de v\u00e1rios <strong>RFchip<\/strong>&nbsp;tipos, promovendo o desenvolvimento de testes normalizados e inteligentes para <strong>Fichas RF<\/strong>.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>RFchips&nbsp;are core components of navigation terminals, directly affecting the overall performance of terminal products. As the BeiDou satellite navigation system&nbsp;becomes more widely used, the demand for RFchip&nbsp;testing has surged. Traditional testing methods can no longer meet the increasing requirements for high efficiency and precision. To address this challenge, this paper designs and implements an automated [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1376,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[30,31],"tags":[36],"class_list":["post-1375","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-insights","category-blog","tag-yvette-wu"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1375","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1375"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1375\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1377,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1375\/revisions\/1377"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1376"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1375"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1375"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1375"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}