{"id":1369,"date":"2025-10-09T01:13:46","date_gmt":"2025-10-09T01:13:46","guid":{"rendered":"https:\/\/www.wallisemi.com\/?p=1369"},"modified":"2025-10-13T01:16:44","modified_gmt":"2025-10-13T01:16:44","slug":"tecnologias-de-ensaio-essenciais-para-chips-de-radiofrequencia-que-garantem-comunicacoes-sem-fios-de-elevado-desempenho","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/blog\/industry-insights\/key-testing-technologies-for-rf-chips-ensuring-high-performance-wireless-communication\/","title":{"rendered":"Principais tecnologias de teste para chips de RF: Garantindo a comunica\u00e7\u00e3o sem fio de alto desempenho"},"content":{"rendered":"

Chips RF<\/strong> s\u00e3o componentes cruciais nos sistemas de comunica\u00e7\u00e3o sem fios e o seu desempenho tem um impacto direto na fiabilidade de toda a liga\u00e7\u00e3o de comunica\u00e7\u00e3o. Este artigo apresentar\u00e1 sistematicamente tr\u00eas tecnologias-chave para Chip RF<\/strong> testes: tempo de comuta\u00e7\u00e3o, harm\u00f3nicos e distor\u00e7\u00e3o de intermodula\u00e7\u00e3o. Tamb\u00e9m compararemos a verifica\u00e7\u00e3o em laborat\u00f3rio com os testes de produ\u00e7\u00e3o em massa.<\/p>\n\n\n\n

1. <\/strong>Teste de tempo de comuta\u00e7\u00e3o para chips de RF<\/strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n

O tempo de comuta\u00e7\u00e3o \u00e9 um par\u00e2metro cr\u00edtico para medir a velocidade de resposta de Chips RF<\/strong>, O tempo de estabiliza\u00e7\u00e3o da pot\u00eancia do sinal em 90% durante a transi\u00e7\u00e3o de \u201cligado\u201d para \u201cdesligado\u201d ou vice-versa. Este par\u00e2metro \u00e9 essencial para Chips RF<\/strong> em sistemas duplex por divis\u00e3o de frequ\u00eancia (FDD) e duplex por divis\u00e3o de tempo (TDD).<\/p>\n\n\n\n

M\u00e9todo de ensaio laboratorial<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

Num ambiente de laborat\u00f3rio, os oscilosc\u00f3pios de alta largura de banda s\u00e3o normalmente utilizados para testar o tempo de comuta\u00e7\u00e3o. Tanto o sinal de controlo como o Chip RF<\/strong> O sinal de sa\u00edda deve ser captado simultaneamente para medir a diferen\u00e7a de tempo. A largura de banda do oscilosc\u00f3pio \u00e9 crucial e deve ser 2-5 vezes a frequ\u00eancia mais elevada do sinal para minimizar os erros de amplitude. Quando a frequ\u00eancia do sinal \u00e9 um ter\u00e7o da largura de banda do oscilosc\u00f3pio, o erro de medi\u00e7\u00e3o do tempo de subida pode ser controlado dentro de 4,4%.<\/p>\n\n\n\n

Otimiza\u00e7\u00e3o de testes de produ\u00e7\u00e3o em massa<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

Na produ\u00e7\u00e3o em massa, a solu\u00e7\u00e3o de oscilosc\u00f3pio de alto custo n\u00e3o \u00e9 pr\u00e1tica. Em vez disso, utilizamos um analisador de modo digital PXIe-6570 com um transcetor de sinal vetorial (VST) para construir o sistema de teste. Esta solu\u00e7\u00e3o utiliza plenamente as carater\u00edsticas de elevada sincroniza\u00e7\u00e3o do barramento PXI (com atrasos entre m\u00f3dulos t\u00e3o baixos como 250 ps), enviando comandos de comuta\u00e7\u00e3o atrav\u00e9s do instrumento digital e accionando o VST para recolher os Sinal de RF<\/strong>, calculando assim com exatid\u00e3o o tempo de comuta\u00e7\u00e3o. Esta conce\u00e7\u00e3o melhora significativamente a efici\u00eancia do ensaio e reduz a complexidade do sistema.<\/p>\n\n\n\n

2. <\/strong>Teste de harm\u00f3nicas para chips de RF<\/strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n

Componentes n\u00e3o lineares em Chips RF<\/strong> geram harm\u00f3nicas, causando radia\u00e7\u00f5es esp\u00farias em m\u00faltiplos inteiros da frequ\u00eancia fundamental. Os ensaios de harm\u00f3nicas s\u00e3o essenciais para avaliar as emiss\u00f5es fora de banda de Chips RF<\/strong>.<\/p>\n\n\n\n

M\u00e9todo de ensaio<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

\u00c9 utilizado um sinal de onda cont\u00ednua para excitar o Chip RF<\/strong>, e a pot\u00eancia de sa\u00edda nas frequ\u00eancias harm\u00f3nicas \u00e9 medida. Os itens de teste comuns incluem a terceira e a quinta harm\u00f3nicas. Para medi\u00e7\u00f5es exactas:<\/p>\n\n\n\n

Pode ser utilizado um analisador de sinais para efetuar pesquisas de picos em pontos de frequ\u00eancia esperados.<\/p>\n\n\n\n

Em alternativa, o modo de intervalo zero pode ser utilizado para medi\u00e7\u00f5es de pot\u00eancia de passagem no dom\u00ednio do tempo.<\/p>\n\n\n\n

Produ\u00e7\u00e3o em massa Testes Implementa\u00e7\u00e3o<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

Na produ\u00e7\u00e3o em massa, um sistema de teste de harm\u00f3nicas \u00e9 constru\u00eddo utilizando um VST emparelhado com m\u00f3dulos de alta pot\u00eancia (por exemplo, NI 5534, com pot\u00eancia de sa\u00edda de 38 dBm). O sinal \u00e9 amplificado, filtrado e depois introduzido no Chip RF<\/strong>. Ap\u00f3s a filtragem da frequ\u00eancia fundamental, os harm\u00f3nicos do sinal de sa\u00edda s\u00e3o analisados pelo VST. Esta abordagem assegura uma elevada precis\u00e3o, maximizando a reutiliza\u00e7\u00e3o do equipamento.<\/p>\n\n\n\n

3. <\/strong>Teste de Distor\u00e7\u00e3o de Intermodula\u00e7\u00e3o para Chips RF<\/strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n

A distor\u00e7\u00e3o de intermodula\u00e7\u00e3o (IMD) \u00e9 um importante indicador de n\u00e3o linearidade em Chips RF<\/strong>, afectando especialmente Chips RF<\/strong> que funcionam em v\u00e1rias bandas de frequ\u00eancia.<\/p>\n\n\n\n

Base te\u00f3rica<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

Quando um Chip RF<\/strong> processa sinais de frequ\u00eancias m\u00faltiplas em simult\u00e2neo, as suas carater\u00edsticas n\u00e3o lineares geram novos componentes de frequ\u00eancia. Os produtos de intermodula\u00e7\u00e3o de terceira ordem (IMD3) s\u00e3o especialmente dif\u00edceis de filtrar porque est\u00e3o pr\u00f3ximos da frequ\u00eancia fundamental, afectando significativamente o desempenho do sistema. O ponto de interce\u00e7\u00e3o de terceira ordem (IP3\/TOI) \u00e9 um par\u00e2metro-chave utilizado para caraterizar a linearidade de Chips RF<\/strong> e \u00e9 normalmente calculado.<\/p>\n\n\n\n

Configura\u00e7\u00e3o e implementa\u00e7\u00e3o de testes<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

O teste IMD requer um sinal de excita\u00e7\u00e3o de tom duplo, que \u00e9 combinado utilizando um combinador de pot\u00eancia e alimentado no Chip RF<\/strong>. O painel frontal do software NI-RFSA fornece fun\u00e7\u00f5es de medi\u00e7\u00e3o especializadas que identificam automaticamente a frequ\u00eancia fundamental e os produtos de distor\u00e7\u00e3o de terceira ordem, calculando o r\u00e1cio IMD e o IP3. Esta solu\u00e7\u00e3o integrada simplifica muito o processo de teste para Chips RF<\/strong>.<\/p>\n\n\n\n

4. <\/strong>Compara\u00e7\u00e3o e resumo das solu\u00e7\u00f5es de teste<\/strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n
Item de teste<\/strong><\/strong><\/td>Solu\u00e7\u00e3o de laborat\u00f3rio<\/strong><\/strong><\/td>Solu\u00e7\u00e3o de produ\u00e7\u00e3o em massa<\/strong><\/strong><\/td>Principais vantagens<\/strong><\/strong><\/td><\/tr>
Hora de mudar<\/td>Oscilosc\u00f3pio de alta largura de banda<\/td>Analisador de modo digital PXI + VST<\/td>Alta sincroniza\u00e7\u00e3o, baixo custo<\/td><\/tr>
Ensaio de harm\u00f3nicas<\/td>Analisador de sinais<\/td>VST + M\u00f3dulo de alta pot\u00eancia<\/td>Alta pot\u00eancia, reutiliza\u00e7\u00e3o do equipamento<\/td><\/tr>
Distor\u00e7\u00e3o de intermodula\u00e7\u00e3o<\/td>Instrumentos RF tradicionais<\/td>Analisador RF PXI<\/td>Automa\u00e7\u00e3o, alta precis\u00e3o<\/td><\/tr><\/tbody><\/table><\/figure>\n\n\n\n

Com o r\u00e1pido desenvolvimento das tecnologias 5G e IoT, a complexidade da Chips RF<\/strong> continua a aumentar e os requisitos de ensaio est\u00e3o a tornar-se mais rigorosos. Os m\u00e9todos de ensaio apresentados neste artigo equilibram eficazmente a precis\u00e3o e o custo, assegurando simultaneamente Chip RF<\/strong> desempenho, proporcionando um apoio fi\u00e1vel ao desenvolvimento de produtos e \u00e0 produ\u00e7\u00e3o em massa.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

RF chips are crucial components in wireless communication systems, and their performance directly impacts the reliability of the entire communication link. This article will systematically introduce three key technologies for RF chip testing: switch time, harmonics, and intermodulation distortion. We will also compare laboratory verification with mass production testing. 1. Switch Time Testing for RF Chips Switch […]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1357,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[30,31],"tags":[36],"class_list":["post-1369","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-insights","category-blog","tag-yvette-wu"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1369","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1369"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1369\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1370,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1369\/revisions\/1370"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1357"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1369"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1369"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/pt\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1369"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}