{"id":1369,"date":"2025-10-09T01:13:46","date_gmt":"2025-10-09T01:13:46","guid":{"rendered":"https:\/\/www.wallisemi.com\/?p=1369"},"modified":"2025-10-13T01:16:44","modified_gmt":"2025-10-13T01:16:44","slug":"belangrijke-testtechnologieen-voor-rf-chips-voor-draadloze-communicatie-met-hoge-prestaties","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.wallisemi.com\/nl\/blog\/industry-insights\/key-testing-technologies-for-rf-chips-ensuring-high-performance-wireless-communication\/","title":{"rendered":"Belangrijke testtechnologie\u00ebn voor RF-chips: Draadloze communicatie met hoge prestaties garanderen"},"content":{"rendered":"

RF-chips<\/strong> zijn cruciale componenten in draadloze communicatiesystemen en hun prestaties hebben een directe invloed op de betrouwbaarheid van de volledige communicatieverbinding. In dit artikel worden drie belangrijke technologie\u00ebn voor RF-chip<\/strong> testen: schakeltijd, harmonischen en intermodulatievervorming. We vergelijken ook laboratoriumtests met massaproductietests.<\/p>\n\n\n\n

1. <\/strong>Schakeltijd testen voor RF-chips<\/strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n

Schakeltijd is een kritieke parameter om de reactiesnelheid van RF-chips<\/strong>, Dit heeft specifiek betrekking op de tijd die het signaalvermogen nodig heeft om zich te stabiliseren op 90% tijdens de overgang van \u201caan\u201d naar \u201cuit\u201d of omgekeerd. Deze parameter is essentieel voor RF-chips<\/strong> in frequency division duplex (FDD) en time division duplex (TDD) systemen.<\/p>\n\n\n\n

Laboratoriumtestmethode<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

In een laboratoriumomgeving worden oscilloscopen met hoge bandbreedte meestal gebruikt om schakeltijden te testen. Zowel het stuursignaal als het RF-chip<\/strong> uitgangssignaal gelijktijdig worden vastgelegd om het tijdsverschil te meten. De bandbreedte van de oscilloscoop is cruciaal en moet 2-5 maal de hoogste signaalfrequentie zijn om amplituderefouten te minimaliseren. Als de signaalfrequentie een derde van de bandbreedte van de oscilloscoop is, kan de fout in de stijgtijdmeting binnen 4,4% worden gehouden.<\/p>\n\n\n\n

Optimalisatie massaproductie testen<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

In massaproductie is de dure oscilloscoopoplossing niet praktisch. In plaats daarvan gebruiken we een PXIe-6570 digital mode analyzer met een vectorsignaalzendontvanger (VST) om het testsysteem op te bouwen. Deze oplossing maakt volledig gebruik van de hoge synchronisatiekenmerken van de PXI-bus (met intermodulevertragingen van slechts 250 ps), waarbij schakelcommando's via het digitale instrument worden verzonden en de VST wordt getriggerd om de signalen te verzamelen. RF-signaal<\/strong>, waardoor de schakeltijd nauwkeurig wordt berekend. Dit ontwerp verbetert de testeffici\u00ebntie aanzienlijk en vermindert de complexiteit van het systeem.<\/p>\n\n\n\n

2. <\/strong>Harmonische testen voor RF-chips<\/strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n

Niet-lineaire componenten in RF-chips<\/strong> harmonischen genereren, die ongewenste straling veroorzaken bij gehele veelvouden van de fundamentele frequentie. Het testen van harmonischen is essentieel voor het evalueren van de out-of-band emissies van RF-chips<\/strong>.<\/p>\n\n\n\n

Testmethode<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

Er wordt een continu golfsignaal gebruikt om de RF-chip<\/strong>, en het uitgangsvermogen bij harmonische frequenties wordt gemeten. Veel voorkomende testpunten zijn de derde en vijfde harmonische. Voor nauwkeurige metingen:<\/p>\n\n\n\n

Een signaalanalysator kan gebruikt worden om pieken te zoeken op verwachte frequentiepunten.<\/p>\n\n\n\n

Als alternatief kan de zero-span modus gebruikt worden voor time-domain gating vermogensmetingen.<\/p>\n\n\n\n

Uitvoering massaproductie testen<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

In massaproductie wordt een harmonisch testsysteem gebouwd met behulp van een VST in combinatie met krachtige modules (bijvoorbeeld NI 5534, met een uitgangsvermogen van 38 dBm). Het signaal wordt versterkt, gefilterd en vervolgens ingevoerd in de RF-chip<\/strong>. Na het uitfilteren van de fundamentele frequentie worden de harmonischen van het uitgangssignaal geanalyseerd door de VST. Deze aanpak garandeert een hoge nauwkeurigheid terwijl de apparatuur maximaal wordt hergebruikt.<\/p>\n\n\n\n

3. <\/strong>Intermodulatie vervormingstesten voor RF-chips<\/strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n

Intermodulatievervorming (IMD) is een belangrijke indicator van niet-lineariteit in RF-chips<\/strong>, vooral van invloed op RF-chips<\/strong> die op meerdere frequentiebanden werken.<\/p>\n\n\n\n

Theoretische basis<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

Wanneer een RF-chip<\/strong> meerdere frequentiesignalen tegelijkertijd verwerkt, genereren de niet-lineaire eigenschappen nieuwe frequentiecomponenten. De derde-orde intermodulatieproducten (IMD3) zijn vooral een uitdaging om uit te filteren omdat ze dicht bij de fundamentele frequentie liggen, wat de systeemprestaties aanzienlijk be\u00efnvloedt. Het derde-orde-onderscheppingspunt (IP3\/TOI) is een belangrijke parameter die gebruikt wordt om de lineariteit van RF-chips<\/strong> en wordt meestal berekend.<\/p>\n\n\n\n

Testinstellingen en implementatie<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

Voor IMD-tests is een tweetonig excitatiesignaal nodig, dat wordt gecombineerd met een vermogenstransformator en naar het RF-chip<\/strong>. Het frontpaneel van de NI-RFSA software biedt gespecialiseerde meetfuncties die automatisch de fundamentele frequentie en derde-orde vervormingsproducten identificeren en de IMD-verhouding en IP3 berekenen. Deze ge\u00efntegreerde oplossing vereenvoudigt het testproces voor RF-chips<\/strong>.<\/p>\n\n\n\n

4. <\/strong>Vergelijking en samenvatting van testoplossingen<\/strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n
Item testen<\/strong><\/strong><\/td>Laboratoriumoplossing<\/strong><\/strong><\/td>Oplossing voor massaproductie<\/strong><\/strong><\/td>Belangrijkste voordelen<\/strong><\/strong><\/td><\/tr>
Schakeltijd<\/td>Oscilloscoop met hoge bandbreedte<\/td>PXI digitale modus analyzer + VST<\/td>Hoge synchronisatie, lage kosten<\/td><\/tr>
Harmonische testen<\/td>Signaalanalysator<\/td>VST + Krachtmodule<\/td>Hoog vermogen, hergebruik van apparatuur<\/td><\/tr>
Intermodulatie Vervorming<\/td>Traditionele RF-instrumenten<\/td>PXI RF-analyzer<\/td>Automatisering, hoge precisie<\/td><\/tr><\/tbody><\/table><\/figure>\n\n\n\n

Met de snelle ontwikkeling van 5G- en IoT-technologie\u00ebn wordt de complexiteit van RF-chips<\/strong> blijft toenemen en de testvereisten worden steeds strenger. De testmethoden die in dit artikel worden ge\u00efntroduceerd, zorgen voor een effectieve balans tussen precisie en kosten, terwijl ze tegelijkertijd het volgende garanderen RF-chip<\/strong> prestaties en biedt betrouwbare ondersteuning voor productontwikkeling en massaproductie.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

RF chips are crucial components in wireless communication systems, and their performance directly impacts the reliability of the entire communication link. This article will systematically introduce three key technologies for RF chip testing: switch time, harmonics, and intermodulation distortion. We will also compare laboratory verification with mass production testing. 1. Switch Time Testing for RF Chips Switch […]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1357,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[30,31],"tags":[36],"class_list":["post-1369","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-insights","category-blog","tag-yvette-wu"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1369","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1369"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1369\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1370,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1369\/revisions\/1370"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1357"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1369"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1369"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/nl\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1369"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}