{"id":1369,"date":"2025-10-09T01:13:46","date_gmt":"2025-10-09T01:13:46","guid":{"rendered":"https:\/\/www.wallisemi.com\/?p=1369"},"modified":"2025-10-13T01:16:44","modified_gmt":"2025-10-13T01:16:44","slug":"technologies-dessai-essentielles-pour-les-puces-a-radiofrequences-assurant-des-communications-sans-fil-a-haute-performance","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.wallisemi.com\/fr\/blog\/industry-insights\/key-testing-technologies-for-rf-chips-ensuring-high-performance-wireless-communication\/","title":{"rendered":"Technologies de test cl\u00e9s pour les puces RF : Garantir des communications sans fil performantes"},"content":{"rendered":"

Puces RF<\/strong> sont des composants cruciaux dans les syst\u00e8mes de communication sans fil, et leur performance a un impact direct sur la fiabilit\u00e9 de l'ensemble de la liaison de communication. Cet article pr\u00e9sente de mani\u00e8re syst\u00e9matique trois technologies cl\u00e9s pour les syst\u00e8mes de communication sans fil. Puce RF<\/strong> Les essais en laboratoire portent sur le temps de commutation, les harmoniques et la distorsion d'intermodulation. Nous comparerons \u00e9galement la v\u00e9rification en laboratoire avec les tests de production de masse.<\/p>\n\n\n\n

1. <\/strong>Test de temps de commutation pour les puces RF<\/strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n

Le temps de commutation est un param\u00e8tre critique pour mesurer la vitesse de r\u00e9ponse de l'appareil. Puces RF<\/strong>, Il s'agit du temps n\u00e9cessaire pour que la puissance du signal se stabilise \u00e0 90% pendant la transition de \u201con\u201d \u00e0 \u201coff\u201d ou vice versa. Ce param\u00e8tre est essentiel pour Puces RF<\/strong> dans les syst\u00e8mes duplex \u00e0 r\u00e9partition en fr\u00e9quence (FDD) et duplex \u00e0 r\u00e9partition dans le temps (TDD).<\/p>\n\n\n\n

M\u00e9thode d'essai en laboratoire<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

Dans un environnement de laboratoire, les oscilloscopes \u00e0 large bande passante sont g\u00e9n\u00e9ralement utilis\u00e9s pour tester le temps de commutation. Le signal de commande et le Puce RF<\/strong> doit \u00eatre captur\u00e9 simultan\u00e9ment pour mesurer la diff\u00e9rence de temps. La largeur de bande de l'oscilloscope est cruciale et doit \u00eatre de 2 \u00e0 5 fois la fr\u00e9quence la plus \u00e9lev\u00e9e du signal afin de minimiser les erreurs d'amplitude. Lorsque la fr\u00e9quence du signal correspond \u00e0 un tiers de la largeur de bande de l'oscilloscope, l'erreur de mesure du temps de mont\u00e9e peut \u00eatre contr\u00f4l\u00e9e \u00e0 4,4% pr\u00e8s.<\/p>\n\n\n\n

Optimisation des essais pour la production de masse<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

Dans la production de masse, la solution de l'oscilloscope \u00e0 co\u00fbt \u00e9lev\u00e9 n'est pas pratique. Au lieu de cela, nous utilisons un analyseur de mode num\u00e9rique PXIe-6570 avec un \u00e9metteur-r\u00e9cepteur de signaux vectoriels (VST) pour construire le syst\u00e8me de test. Cette solution utilise pleinement les caract\u00e9ristiques de synchronisation \u00e9lev\u00e9e du bus PXI (avec des retards inter-modules aussi faibles que 250 ps), en envoyant des commandes de commutation via l'instrument num\u00e9rique et en d\u00e9clenchant le VST pour collecter les donn\u00e9es de l'analyseur. Signal RF<\/strong>, ce qui permet de calculer avec pr\u00e9cision le temps de commutation. Cette conception am\u00e9liore consid\u00e9rablement l'efficacit\u00e9 des tests et r\u00e9duit la complexit\u00e9 du syst\u00e8me.<\/p>\n\n\n\n

2. <\/strong>Test d'harmoniques pour les puces RF<\/strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n

Composantes non lin\u00e9aires dans les Puces RF<\/strong> g\u00e9n\u00e8rent des harmoniques, provoquant des rayonnements parasites \u00e0 des multiples entiers de la fr\u00e9quence fondamentale. Les tests d'harmoniques sont essentiels pour \u00e9valuer les \u00e9missions hors bande des produits suivants Puces RF<\/strong>.<\/p>\n\n\n\n

M\u00e9thode d'essai<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

Un signal d'onde continue est utilis\u00e9 pour exciter l'appareil. Puce RF<\/strong>, et la puissance de sortie aux fr\u00e9quences harmoniques est mesur\u00e9e. Les tests les plus courants portent sur les troisi\u00e8me et cinqui\u00e8me harmoniques. Pour des mesures pr\u00e9cises :<\/p>\n\n\n\n

Un analyseur de signaux peut \u00eatre utilis\u00e9 pour effectuer des recherches de pics aux points de fr\u00e9quence pr\u00e9vus.<\/p>\n\n\n\n

Le mode z\u00e9ro port\u00e9e peut \u00e9galement \u00eatre utilis\u00e9 pour les mesures de puissance de gating dans le domaine temporel.<\/p>\n\n\n\n

Production de masse Essais Mise en \u0153uvre<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

Dans la production de masse, un syst\u00e8me de test harmonique est construit en utilisant un VST associ\u00e9 \u00e0 des modules de haute puissance (par exemple, NI 5534, avec une puissance de sortie de 38 dBm). Le signal est amplifi\u00e9, filtr\u00e9, puis introduit dans le syst\u00e8me de test d'harmoniques. Puce RF<\/strong>. Apr\u00e8s filtrage de la fr\u00e9quence fondamentale, les harmoniques du signal de sortie sont analys\u00e9es par le VST. Cette approche garantit une grande pr\u00e9cision tout en maximisant la r\u00e9utilisation de l'\u00e9quipement.<\/p>\n\n\n\n

3. <\/strong>Test de distorsion d'intermodulation pour les puces RF<\/strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n

La distorsion d'intermodulation (IMD) est un indicateur important de la non-lin\u00e9arit\u00e9 dans les syst\u00e8mes de communication. Puces RF<\/strong>, affectant en particulier Puces RF<\/strong> qui fonctionnent sur plusieurs bandes de fr\u00e9quences.<\/p>\n\n\n\n

Base th\u00e9orique<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

Lorsqu'un Puce RF<\/strong> traite simultan\u00e9ment plusieurs signaux de fr\u00e9quence, ses caract\u00e9ristiques non lin\u00e9aires g\u00e9n\u00e8rent de nouvelles composantes de fr\u00e9quence. Les produits d'intermodulation de troisi\u00e8me ordre (IMD3) sont particuli\u00e8rement difficiles \u00e0 filtrer car ils sont proches de la fr\u00e9quence fondamentale, ce qui a un impact significatif sur les performances du syst\u00e8me. Le point d'interception du troisi\u00e8me ordre (IP3\/TOI) est un param\u00e8tre cl\u00e9 utilis\u00e9 pour caract\u00e9riser la lin\u00e9arit\u00e9 des produits d'intermodulation du troisi\u00e8me ordre. Puces RF<\/strong> et est g\u00e9n\u00e9ralement calcul\u00e9e.<\/p>\n\n\n\n

Configuration et mise en \u0153uvre des tests<\/strong><\/strong><\/h6>\n\n\n\n

Le test IMD n\u00e9cessite un signal d'excitation \u00e0 deux tons, qui est combin\u00e9 \u00e0 l'aide d'un combineur de puissance et inject\u00e9 dans l'appareil de mesure de l'IMD. Puce RF<\/strong>. Le panneau avant du logiciel NI-RFSA offre des fonctions de mesure sp\u00e9cialis\u00e9es qui identifient automatiquement la fr\u00e9quence fondamentale et les produits de distorsion de troisi\u00e8me ordre, en calculant le rapport IMD et l'IP3. Cette solution int\u00e9gr\u00e9e simplifie consid\u00e9rablement le processus de test pour les produits suivants Puces RF<\/strong>.<\/p>\n\n\n\n

4. <\/strong>Comparaison et synth\u00e8se des solutions de test<\/strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n
\u00c9l\u00e9ment d'essai<\/strong><\/strong><\/td>Solution de laboratoire<\/strong><\/strong><\/td>Solution pour la production de masse<\/strong><\/strong><\/td>Principaux avantages<\/strong><\/strong><\/td><\/tr>
Heure de commutation<\/td>Oscilloscope \u00e0 large bande passante<\/td>Analyseur de mode num\u00e9rique PXI + VST<\/td>Synchronisation \u00e9lev\u00e9e, faible co\u00fbt<\/td><\/tr>
Tests harmoniques<\/td>Analyseur de signaux<\/td>VST + module haute puissance<\/td>Puissance \u00e9lev\u00e9e, r\u00e9utilisation des \u00e9quipements<\/td><\/tr>
Distorsion d'intermodulation<\/td>Instruments RF traditionnels<\/td>Analyseur RF PXI<\/td>Automatisation, haute pr\u00e9cision<\/td><\/tr><\/tbody><\/table><\/figure>\n\n\n\n

Avec le d\u00e9veloppement rapide de la 5G et des technologies IoT, la complexit\u00e9 des... Puces RF<\/strong> ne cesse d'augmenter et les exigences en mati\u00e8re de tests sont de plus en plus strictes. Les m\u00e9thodes d'essai pr\u00e9sent\u00e9es dans cet article permettent d'\u00e9quilibrer efficacement la pr\u00e9cision et le co\u00fbt tout en garantissant Puce RF<\/strong> et de fournir un support fiable pour le d\u00e9veloppement de produits et la production de masse.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

RF chips are crucial components in wireless communication systems, and their performance directly impacts the reliability of the entire communication link. This article will systematically introduce three key technologies for RF chip testing: switch time, harmonics, and intermodulation distortion. We will also compare laboratory verification with mass production testing. 1. Switch Time Testing for RF Chips Switch […]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1357,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[30,31],"tags":[36],"class_list":["post-1369","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-insights","category-blog","tag-yvette-wu"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1369","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1369"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1369\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1370,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1369\/revisions\/1370"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1357"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1369"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1369"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/fr\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1369"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}