{"id":1430,"date":"2025-10-13T00:49:10","date_gmt":"2025-10-13T00:49:10","guid":{"rendered":"https:\/\/www.wallisemi.com\/?p=1430"},"modified":"2025-10-15T00:52:13","modified_gmt":"2025-10-15T00:52:13","slug":"pruebas-eficientes-de-chips-de-rf-con-sistemas-ate-que-mejoran-la-autonomia-del-sector-de-la-navegacion-por-satelite","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/blog\/industry-insights\/empowering-efficient-testing-of-rf-chips-with-ate-systems-advancing-the-satellite-navigation-industrys-autonomy\/","title":{"rendered":"Pruebas eficientes de chips de RF con sistemas ATE: Avanzar en la autonom\u00eda del sector de la navegaci\u00f3n por sat\u00e9lite"},"content":{"rendered":"

Introducci\u00f3n<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Los chips de RF son los componentes principales que reciben las se\u00f1ales en los terminales de navegaci\u00f3n por sat\u00e9lite, lo que influye directamente en la precisi\u00f3n del posicionamiento y la calidad de la comunicaci\u00f3n. A medida que el Sistema Mundial de Navegaci\u00f3n por Sat\u00e9lite (GNSS) se adopta cada vez m\u00e1s en todo el mundo, la eficacia y la precisi\u00f3n de las pruebas de chips de RF se han convertido en factores clave para garantizar la fiabilidad y la capacidad de producci\u00f3n en serie de los productos terminales. En los \u00faltimos a\u00f1os, las soluciones de prueba de chips de RF basadas en sistemas de equipos de prueba autom\u00e1ticos (ATE) han surgido como una importante v\u00eda tecnol\u00f3gica para mejorar la cobertura y la eficiencia de las pruebas.<\/p>\n\n\n\n

Retos de las pruebas de chips de RF: Arquitecturas complejas y par\u00e1metros diversos<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Los chips de RF para navegaci\u00f3n por sat\u00e9lite suelen constar de m\u00f3dulos como el front-end de RF, mezcladores, osciladores controlados por tensi\u00f3n, bucles de fase bloqueada, filtros de frecuencia intermedia, controladores de ganancia y convertidores anal\u00f3gico-digitales. Estos chips son responsables de funciones cr\u00edticas como la recepci\u00f3n de se\u00f1ales, la conversi\u00f3n de frecuencias, la amplificaci\u00f3n y la transmisi\u00f3n. Aunque las bandas de frecuencia y los formatos de los mensajes pueden diferir entre los sistemas de navegaci\u00f3n de los distintos pa\u00edses, la arquitectura b\u00e1sica de los chips de RF sigue siendo la misma. Entre los principales par\u00e1metros de rendimiento se encuentran el factor de ruido, el punto de compresi\u00f3n de 1 dB de entrada, el ruido de fase, el rechazo de im\u00e1genes y la planitud dentro de banda.<\/p>\n\n\n\n

Con el aumento de la integraci\u00f3n y la complejidad de los chips de RF, los m\u00e9todos de prueba manuales tradicionales, basados en instrumentos discretos como analizadores de espectro y generadores de se\u00f1ales, ya no son suficientes para satisfacer las demandas de producci\u00f3n en masa y validaci\u00f3n de alta precisi\u00f3n. Cuestiones como los engorrosos procesos de prueba, la escasa fiabilidad del sistema y la cobertura limitada dificultan considerablemente la investigaci\u00f3n, el desarrollo y la industrializaci\u00f3n de los chips de RF.<\/p>\n\n\n\n

Plataforma de pruebas integrada para chips de RF: Evaluaci\u00f3n eficiente y precisa con sistemas ATE<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Para hacer frente a estos retos, el equipo de investigaci\u00f3n propuso una plataforma integrada y automatizada de pruebas de chips de RF construida en torno al sistema ATE. Esta plataforma combina fuentes de se\u00f1al de RF de alta precisi\u00f3n, analizadores de espectro y comunicaci\u00f3n por bus GPIB\/VXI para aprovechar al m\u00e1ximo las capacidades de ATE en control digital, gesti\u00f3n de potencia, adquisici\u00f3n de se\u00f1ales y an\u00e1lisis. Permite realizar pruebas de m\u00faltiples par\u00e1metros de chips de RF en un solo lugar.<\/p>\n\n\n\n

Durante el proceso de prueba, el sistema configura los registros del chip de RF a trav\u00e9s de una interfaz SPI, establece distintos modos de funcionamiento y controla la fuente de se\u00f1al de RF para introducir se\u00f1ales de excitaci\u00f3n. A continuaci\u00f3n, equipos como los analizadores de espectro recogen y analizan las se\u00f1ales de salida. Por ejemplo, al probar el ruido de fase y el punto de compresi\u00f3n de 1 dB de entrada, el sistema realiza autom\u00e1ticamente exploraciones de frecuencia, mediciones de potencia y ajuste de datos para generar r\u00e1pidamente resultados de evaluaci\u00f3n, lo que mejora enormemente la coherencia y la repetibilidad.<\/p>\n\n\n\n

Los datos experimentales confirman la fiabilidad de los sistemas ATE para ensayos de chips de RF<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Para validar el rendimiento del sistema de pruebas basado en ATE, el equipo de investigaci\u00f3n realiz\u00f3 pruebas exhaustivas de par\u00e1metros en m\u00faltiples chips RF de navegaci\u00f3n GPS. Los resultados mostraron que los indicadores clave, como el ancho de banda del filtro, el punto de compresi\u00f3n de 1 dB de entrada, el ruido de fase, el factor de ruido y el rechazo de imagen, cumpl\u00edan las expectativas de dise\u00f1o. El sistema demostr\u00f3 una excelente estabilidad y consistencia en diferentes muestras.<\/p>\n\n\n\n

Este logro demuestra que las soluciones de ensayo de chips de RF basadas en ATE no s\u00f3lo cumplen los requisitos de medici\u00f3n de alta precisi\u00f3n, sino que tambi\u00e9n admiten la integraci\u00f3n con dispositivos perif\u00e9ricos como unidades de control de alta\/baja temperatura y alimentadores mec\u00e1nicos. Esto permite realizar pruebas automatizadas en todos los rangos de temperatura y producir lotes a gran escala, proporcionando un soporte t\u00e9cnico fiable para la producci\u00f3n en masa y el control de calidad de los chips de RF.<\/p>\n\n\n\n

Conclusiones: Las pruebas de automatizaci\u00f3n impulsan la actualizaci\u00f3n de los chips de RF y sientan las bases del futuro de los terminales de navegaci\u00f3n<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Como \u201cpuerta de entrada de la se\u00f1al\u201d de los sistemas de navegaci\u00f3n, la eficacia y la calidad de las pruebas de los chips de RF repercuten directamente en la competitividad de toda la industria de terminales. La introducci\u00f3n de los sistemas ATE marca el cambio de la \u201coperaci\u00f3n manual\u201d a la \u201cintegraci\u00f3n de sistemas\u201d en las pruebas de chips de RF, y de la \u201cmedici\u00f3n de un solo punto\u201d a la \u201ccobertura integral de par\u00e1metros\u201d. Esta transici\u00f3n sienta unas bases s\u00f3lidas para la autonom\u00eda, la normalizaci\u00f3n y el desarrollo de alta calidad de los chips RF de navegaci\u00f3n por sat\u00e9lite de China.<\/p>\n\n\n\n

Con el amplio despliegue del sistema Beidou de tercera generaci\u00f3n y el r\u00e1pido desarrollo de Internet por sat\u00e9lite de \u00f3rbita baja, los chips de RF desempe\u00f1ar\u00e1n un papel clave en m\u00e1s escenarios de alta precisi\u00f3n y alta din\u00e1mica. Las soluciones de pruebas automatizadas y basadas en plataformas se convertir\u00e1n en un motor crucial que impulsar\u00e1 la innovaci\u00f3n tecnol\u00f3gica y la aplicaci\u00f3n industrial en el desarrollo de chips de RF.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Introduction RF chips are the core components that receive signals in satellite navigation terminals, directly influencing the accuracy of positioning and the quality of communication. As the Global Navigation Satellite System (GNSS) is increasingly adopted worldwide, the efficiency and accuracy of RF chip testing have become key factors in ensuring the reliability and mass production […]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1426,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[30,31],"tags":[36],"class_list":["post-1430","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-insights","category-blog","tag-yvette-wu"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1430","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1430"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1430\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1431,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1430\/revisions\/1431"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1426"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1430"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1430"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1430"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}