{"id":1425,"date":"2025-10-13T00:31:28","date_gmt":"2025-10-13T00:31:28","guid":{"rendered":"https:\/\/www.wallisemi.com\/?p=1425"},"modified":"2025-10-15T00:45:46","modified_gmt":"2025-10-15T00:45:46","slug":"los-avances-en-las-pruebas-de-automatizacion-de-chips-rf-potencian-el-desarrollo-de-alta-calidad-de-la-industria-de-navegacion-beidou","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/blog\/industry-insights\/advancements-in-rf-chip-automation-testing-empowering-the-high-quality-development-of-the-beidou-navigation-industry\/","title":{"rendered":"Avances en las pruebas de automatizaci\u00f3n de chips de RF: Impulsando el desarrollo de alta calidad de la industria de navegaci\u00f3n Beidou"},"content":{"rendered":"

Introducci\u00f3n<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Los chips de RF, como componentes centrales de los terminales de navegaci\u00f3n por sat\u00e9lite, desempe\u00f1an un papel fundamental a la hora de determinar la precisi\u00f3n, la capacidad antiinterferente y la fiabilidad de comunicaci\u00f3n de los sistemas de navegaci\u00f3n. Con el servicio integral y la industrializaci\u00f3n del sistema de navegaci\u00f3n por sat\u00e9lite Beidou de China, la eficiencia y la estandarizaci\u00f3n de las pruebas de chips de RF se han convertido en factores clave para el desarrollo de la cadena industrial. En los \u00faltimos a\u00f1os, las tecnolog\u00edas de pruebas automatizadas para chips de RF han madurado, ofreciendo soluciones viables para superar los retos tradicionales de baja eficiencia y poca consistencia en las pruebas.<\/p>\n\n\n\n

Retos de las pruebas de chips de RF y papel de la automatizaci\u00f3n<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Las pruebas de chips de RF se enfrentan a dos grandes retos: en primer lugar, la amplia gama de proyectos de pruebas, que incluyen ganancia, ruido, linealidad y ruido de fase; y en segundo lugar, el complejo proceso de pruebas, que exige altos est\u00e1ndares de control de instrumentos, adquisici\u00f3n de se\u00f1ales y an\u00e1lisis de datos. Los m\u00e9todos de prueba manuales tradicionales ya no bastan para satisfacer la creciente demanda de pruebas de alta precisi\u00f3n y gran volumen a medida que aumenta la integraci\u00f3n de chips de RF y se diversifican los escenarios de aplicaci\u00f3n.<\/p>\n\n\n\n

En este contexto, la creaci\u00f3n de una plataforma de pruebas de automatizaci\u00f3n de chips de RF estandarizada y escalable se ha convertido en una base crucial para promover la industrializaci\u00f3n de los chips de RF y apoyar la aplicaci\u00f3n a gran escala de los terminales Beidou.<\/p>\n\n\n\n

Plataforma optimizada de pruebas de automatizaci\u00f3n para chips de RF<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Para cumplir los requisitos de prueba de los chips de RF de navegaci\u00f3n por sat\u00e9lite, los investigadores han dise\u00f1ado una plataforma de pruebas de automatizaci\u00f3n basada en los principios de apertura, flexibilidad y escalabilidad. Este sistema integra instrumentos est\u00e1ndar como generadores de se\u00f1ales, analizadores de espectro y analizadores vectoriales de redes, enlaz\u00e1ndolos mediante fuentes de alimentaci\u00f3n programables, dispositivos de prueba y redes de comunicaci\u00f3n. El software controla la automatizaci\u00f3n del proceso de pruebas.<\/p>\n\n\n\n

La principal caracter\u00edstica de esta plataforma de pruebas es su mecanismo de \u201cplantilla de pruebas\u201d. Los usuarios pueden editar f\u00e1cilmente los elementos y par\u00e1metros de las pruebas en funci\u00f3n de los requisitos de los distintos chips de RF. A continuaci\u00f3n, el sistema completa autom\u00e1ticamente todo el proceso, desde la excitaci\u00f3n de la se\u00f1al y la adquisici\u00f3n de datos hasta el an\u00e1lisis de los resultados, lo que mejora notablemente la eficacia y la coherencia de las pruebas. Por ejemplo, al medir el punto de intercepci\u00f3n de tercer orden de entrada (IP3), el sistema puede controlar con precisi\u00f3n la entrada de se\u00f1al de doble frecuencia, medir autom\u00e1ticamente la salida de frecuencia intermedia y la potencia de la se\u00f1al de intermodulaci\u00f3n, y calcular indicadores de linealidad basados en f\u00f3rmulas, todo ello sin intervenci\u00f3n manual.<\/p>\n\n\n\n

Resultados experimentales y normalizaci\u00f3n de las pruebas de chips de RF<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Para comprobar la viabilidad de este sistema de pruebas automatizadas, el equipo de investigaci\u00f3n realiz\u00f3 pruebas exhaustivas en el chip RF RX3701, compatible con operaciones multisistema como Beidou y GPS. Comprobaron ocho indicadores clave, como la intermodulaci\u00f3n de tercer orden de entrada, el rango de ganancia, el factor de ruido y la supresi\u00f3n fuera de banda. Los resultados demostraron que todos los elementos probados cumpl\u00edan los criterios preestablecidos, y que algunas prestaciones incluso superaban los requisitos de dise\u00f1o. Esto confirm\u00f3 la fiabilidad del sistema automatizado de pruebas para tareas de alta precisi\u00f3n y gran repetibilidad.<\/p>\n\n\n\n

Este logro no s\u00f3lo demuestra la madurez de la tecnolog\u00eda de pruebas de automatizaci\u00f3n de chips de RF, sino que tambi\u00e9n proporciona a la industria m\u00e9todos de prueba reutilizables y procesos estandarizados. Es muy importante para promover la normalizaci\u00f3n y la mejora de la calidad de los chips de RF para navegaci\u00f3n por sat\u00e9lite de China.<\/p>\n\n\n\n

Conclusiones: Potenciar los chips de RF con pruebas de automatizaci\u00f3n para construir una base s\u00f3lida para el futuro de Beidou<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Como \u201csensor frontal\u201d de los sistemas de navegaci\u00f3n, las pruebas de rendimiento de los chips de RF mediante la automatizaci\u00f3n y la estandarizaci\u00f3n son cruciales para garantizar el funcionamiento fiable y el despliegue a gran escala de los dispositivos terminales. A medida que se ampl\u00eden los escenarios de aplicaci\u00f3n de Beidou -desde la navegaci\u00f3n a bordo de veh\u00edculos hasta las comunicaciones a baja altitud, pasando por la agricultura de precisi\u00f3n o el rescate de emergencia-, seguir\u00e1 creciendo la demanda de pruebas de chips de RF. La promoci\u00f3n y aplicaci\u00f3n de plataformas de pruebas automatizadas apoyar\u00e1 firmemente a la industria china de chips de RF en la transici\u00f3n del \u201cautocontrol\u201d a la \u201cproducci\u00f3n de alta calidad\u201d, sentando unas bases s\u00f3lidas para el desarrollo de un ecosistema de navegaci\u00f3n por sat\u00e9lite seguro y fiable.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Introduction RF chips, as the core components of satellite navigation terminals, play a critical role in determining the accuracy, anti-interference ability, and communication reliability of navigation systems. With the comprehensive service and industrialization of China\u2019s Beidou Satellite Navigation System, the efficiency and standardization of RF chip testing have become key factors in the development of […]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1428,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[30,31],"tags":[36],"class_list":["post-1425","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-insights","category-blog","tag-yvette-wu"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1425","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1425"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1425\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1429,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1425\/revisions\/1429"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1428"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1425"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1425"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/es\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1425"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}