{"id":1430,"date":"2025-10-13T00:49:10","date_gmt":"2025-10-13T00:49:10","guid":{"rendered":"https:\/\/www.wallisemi.com\/?p=1430"},"modified":"2025-10-15T00:52:13","modified_gmt":"2025-10-15T00:52:13","slug":"ermoglichung-effizienter-tests-von-hf-chips-mit-ate-systemen-zur-forderung-der-autonomie-der-satellitennavigationsindustrie","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/blog\/industry-insights\/empowering-efficient-testing-of-rf-chips-with-ate-systems-advancing-the-satellite-navigation-industrys-autonomy\/","title":{"rendered":"Effizientes Testen von RF-Chips mit ATE-Systemen: Mehr Autonomie f\u00fcr die Satellitennavigationsindustrie"},"content":{"rendered":"

Einf\u00fchrung<\/strong><\/p>\n\n\n\n

HF-Chips sind die Kernkomponenten, die Signale in Satellitennavigationsterminals empfangen und sich direkt auf die Genauigkeit der Positionsbestimmung und die Qualit\u00e4t der Kommunikation auswirken. Da das globale Satellitennavigationssystem (GNSS) weltweit immer h\u00e4ufiger eingesetzt wird, sind die Effizienz und die Genauigkeit der HF-Chip-Pr\u00fcfung zu Schl\u00fcsselfaktoren f\u00fcr die Gew\u00e4hrleistung der Zuverl\u00e4ssigkeit und der Massenproduktionsf\u00e4higkeit von Terminalprodukten geworden. In den letzten Jahren haben sich RF-Chip-Pr\u00fcfl\u00f6sungen auf der Grundlage von ATE-Systemen (Automatic Test Equipment) als wichtiger technologischer Weg zur Verbesserung der Pr\u00fcfabdeckung und -effizienz erwiesen.<\/p>\n\n\n\n

Herausforderungen beim Testen von RF-Chips: Komplexe Architekturen und unterschiedliche Parameter<\/strong><\/p>\n\n\n\n

RF-Chips f\u00fcr die Satellitennavigation bestehen in der Regel aus Modulen wie dem RF-Frontend, Mischern, spannungsgesteuerten Oszillatoren, Phasenregelschleifen, Zwischenfrequenzfiltern, Verst\u00e4rkungsreglern und Analog-Digital-Wandlern. Diese Chips sind f\u00fcr kritische Funktionen wie Signalempfang, Frequenzumwandlung, Verst\u00e4rkung und \u00dcbertragung zust\u00e4ndig. Obwohl sich die Frequenzb\u00e4nder und Nachrichtenformate in den verschiedenen Navigationssystemen der L\u00e4nder unterscheiden k\u00f6nnen, bleibt die grundlegende Architektur der HF-Chips gleich. Zu den wichtigsten Leistungsmerkmalen geh\u00f6ren Rauschzahl, 1dB-Kompressionspunkt am Eingang, Phasenrauschen, Bildunterdr\u00fcckung und In-Band-Ebenheit.<\/p>\n\n\n\n

Mit der zunehmenden Integration und Komplexit\u00e4t von HF-Chips reichen herk\u00f6mmliche manuelle Testmethoden, die sich auf diskrete Instrumente wie Spektrumanalysatoren und Signalgeneratoren st\u00fctzen, nicht mehr aus, um die Anforderungen der Massenproduktion und der hochpr\u00e4zisen Validierung zu erf\u00fcllen. Probleme wie umst\u00e4ndliche Testverfahren, geringe Systemzuverl\u00e4ssigkeit und begrenzte Abdeckung behindern die Forschung, Entwicklung und Industrialisierung von HF-Chips erheblich.<\/p>\n\n\n\n

Integrierte Testplattform f\u00fcr RF-Chips: Effiziente und pr\u00e4zise Bewertung mit ATE-Systemen<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Um diese Herausforderungen zu bew\u00e4ltigen, schlug das Forschungsteam eine integrierte und automatisierte RF-Chip-Testplattform vor, die auf dem ATE-System aufbaut. Diese Plattform kombiniert hochpr\u00e4zise HF-Signalquellen, Spektrumanalysatoren und GPIB\/VXI-Buskommunikation, um die F\u00e4higkeiten von ATE in den Bereichen digitale Steuerung, Leistungsmanagement, Signalerfassung und -analyse voll auszunutzen. Sie erm\u00f6glicht die Pr\u00fcfung mehrerer Parameter von HF-Chips aus einer Hand.<\/p>\n\n\n\n

W\u00e4hrend des Testprozesses konfiguriert das System die Register des HF-Chips \u00fcber eine SPI-Schnittstelle, stellt verschiedene Betriebsmodi ein und steuert die HF-Signalquelle zur Eingabe von Anregungssignalen. Anschlie\u00dfend werden die Ausgangssignale mit Ger\u00e4ten wie Spektrumanalysatoren erfasst und analysiert. Bei der Pr\u00fcfung des Phasenrauschens und des 1dB-Kompressionspunkts am Eingang f\u00fchrt das System beispielsweise automatisch Frequenzabtastungen, Leistungsmessungen und Datenanpassungen durch, um schnell Bewertungsergebnisse zu erzielen, was die Konsistenz und Wiederholbarkeit erheblich verbessert.<\/p>\n\n\n\n

Experimentelle Daten best\u00e4tigen die Zuverl\u00e4ssigkeit von ATE-Systemen f\u00fcr RF-Chip-Tests<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Um die Leistung des ATE-basierten Testsystems zu validieren, f\u00fchrte das Forschungsteam umfassende Parametertests an mehreren GPS-Navigations-HF-Chips durch. Die Ergebnisse zeigten, dass die Schl\u00fcsselindikatoren, einschlie\u00dflich Filterbandbreite, 1dB-Kompressionspunkt am Eingang, Phasenrauschen, Rauschzahl und Bildunterdr\u00fcckung, alle den Entwurfserwartungen entsprachen. Das System zeigte eine ausgezeichnete Stabilit\u00e4t und Konsistenz bei verschiedenen Proben.<\/p>\n\n\n\n

Diese Errungenschaft zeigt, dass ATE-basierte RF-Chip-Testl\u00f6sungen nicht nur die Anforderungen an hochpr\u00e4zise Messungen erf\u00fcllen, sondern auch die Integration mit Peripherieger\u00e4ten wie Hoch-\/Tieftemperatur-Steuerger\u00e4ten und mechanischen Zuf\u00fchrungen unterst\u00fctzen. Dies erm\u00f6glicht automatisiertes Testen in allen Temperaturbereichen und die Produktion von Gro\u00dfserien und bietet zuverl\u00e4ssige technische Unterst\u00fctzung f\u00fcr die Massenproduktion und Qualit\u00e4tskontrolle von HF-Chips.<\/p>\n\n\n\n

Schlussfolgerung: Automatisierungstests treiben die Aufr\u00fcstung von RF-Chips voran und legen den Grundstein f\u00fcr die Zukunft von Navigationsger\u00e4ten<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Als \u201cSignal-Gateway\u201d von Navigationssystemen wirken sich die Testeffizienz und -qualit\u00e4t von HF-Chips direkt auf die Wettbewerbsf\u00e4higkeit der gesamten Terminalindustrie aus. Die Einf\u00fchrung von ATE-Systemen markiert den \u00dcbergang von der \u201cmanuellen Bedienung\u201d zur \u201cSystemintegration\u201d bei der Pr\u00fcfung von HF-Chips und von der \u201cEin-Punkt-Messung\u201d zur \u201cumfassenden Parametererfassung\u201d. Dieser \u00dcbergang schafft eine solide Grundlage f\u00fcr die Autonomie, Standardisierung und hochwertige Entwicklung von Chinas Satellitennavigations-HF-Chips.<\/p>\n\n\n\n

Mit der fl\u00e4chendeckenden Einf\u00fchrung des Beidou-Systems der 3. Generation und der raschen Entwicklung des satellitengest\u00fctzten Internets in niedriger Umlaufbahn werden HF-Chips in Szenarien mit hoher Pr\u00e4zision und Dynamik eine Schl\u00fcsselrolle spielen. Automatisierte, plattformbasierte Testl\u00f6sungen werden ein entscheidender Motor f\u00fcr technologische Innovationen und industrielle Anwendungen in der HF-Chipentwicklung sein.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Introduction RF chips are the core components that receive signals in satellite navigation terminals, directly influencing the accuracy of positioning and the quality of communication. As the Global Navigation Satellite System (GNSS) is increasingly adopted worldwide, the efficiency and accuracy of RF chip testing have become key factors in ensuring the reliability and mass production […]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1426,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[30,31],"tags":[36],"class_list":["post-1430","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-insights","category-blog","tag-yvette-wu"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1430","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1430"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1430\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1431,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1430\/revisions\/1431"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1426"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1430"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1430"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1430"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}