{"id":1425,"date":"2025-10-13T00:31:28","date_gmt":"2025-10-13T00:31:28","guid":{"rendered":"https:\/\/www.wallisemi.com\/?p=1425"},"modified":"2025-10-15T00:45:46","modified_gmt":"2025-10-15T00:45:46","slug":"fortschritte-bei-der-automatisierten-prufung-von-rf-chips-unterstutzen-die-qualitatsentwicklung-der-beidou-navigationsindustrie","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/blog\/industry-insights\/advancements-in-rf-chip-automation-testing-empowering-the-high-quality-development-of-the-beidou-navigation-industry\/","title":{"rendered":"Fortschritte bei der Automatisierung von RF-Chip-Tests: F\u00f6rderung der hochqualitativen Entwicklung der Beidou-Navigationsindustrie"},"content":{"rendered":"

Einf\u00fchrung<\/strong><\/p>\n\n\n\n

HF-Chips spielen als Kernkomponenten von Satellitennavigationsger\u00e4ten eine entscheidende Rolle bei der Bestimmung der Genauigkeit, der St\u00f6rfestigkeit und der Kommunikationszuverl\u00e4ssigkeit von Navigationssystemen. Mit dem umfassenden Service und der Industrialisierung des chinesischen Beidou-Satellitennavigationssystems sind die Effizienz und die Standardisierung der RF-Chip-Pr\u00fcfung zu Schl\u00fcsselfaktoren f\u00fcr die Entwicklung der Industriekette geworden. In den letzten Jahren sind die Automatisierungstechnologien f\u00fcr die Pr\u00fcfung von HF-Chips ausgereift und bieten praktikable L\u00f6sungen zur \u00dcberwindung der traditionellen Herausforderungen wie geringe Effizienz und mangelnde Konsistenz bei der Pr\u00fcfung.<\/p>\n\n\n\n

Herausforderungen beim RF-Chip-Test und die Rolle der Automatisierung<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Die Pr\u00fcfung von HF-Chips steht vor zwei gro\u00dfen Herausforderungen: erstens die gro\u00dfe Bandbreite der Pr\u00fcfprojekte, einschlie\u00dflich Verst\u00e4rkung, Rauschen, Linearit\u00e4t und Phasenrauschen, und zweitens der komplexe Pr\u00fcfprozess, der hohe Anforderungen an die Ger\u00e4testeuerung, Signalerfassung und Datenanalyse stellt. Herk\u00f6mmliche manuelle Pr\u00fcfmethoden reichen nicht mehr aus, um den wachsenden Anforderungen an hochpr\u00e4zise und hochvolumige Pr\u00fcfungen gerecht zu werden, da die Integration von HF-Chips zunimmt und die Anwendungsszenarien vielf\u00e4ltiger werden.<\/p>\n\n\n\n

In diesem Zusammenhang ist der Aufbau einer standardisierten, skalierbaren RF-Chip-Automatisierungstestplattform zu einer entscheidenden Grundlage f\u00fcr die F\u00f6rderung der Industrialisierung von RF-Chips und die Unterst\u00fctzung der gro\u00dffl\u00e4chigen Anwendung von Beidou-Terminals geworden.<\/p>\n\n\n\n

Optimierte Plattform f\u00fcr Automatisierungstests f\u00fcr RF-Chips<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Um den Testanforderungen von RF-Chips f\u00fcr die Satellitennavigation gerecht zu werden, haben Forscher eine automatisierte Testplattform entwickelt, die auf den Prinzipien der Offenheit, Flexibilit\u00e4t und Skalierbarkeit basiert. Dieses System integriert Standardinstrumente wie Signalgeneratoren, Spektrumanalysatoren und Vektornetzwerkanalysatoren und verbindet sie durch programmierbare Stromversorgungen, Testvorrichtungen und Kommunikationsnetzwerke. Die Software steuert die Automatisierung des Testprozesses.<\/p>\n\n\n\n

Das Hauptmerkmal dieser Testplattform ist der \u201cTestvorlagen\u201d-Mechanismus. Die Benutzer k\u00f6nnen die Testelemente und -parameter auf der Grundlage der Anforderungen der verschiedenen HF-Chips einfach bearbeiten. Das System schlie\u00dft dann automatisch den gesamten Prozess ab - von der Signalanregung \u00fcber die Datenerfassung bis hin zur Ergebnisanalyse - und verbessert damit sowohl die Testeffizienz als auch die Konsistenz erheblich. Bei der Messung des Eingangspunktes dritter Ordnung (IP3) kann das System beispielsweise den Zweifrequenzsignaleingang pr\u00e4zise steuern, automatisch den Zwischenfrequenzausgang und die Intermodulationssignalleistung messen und Linearit\u00e4tsindikatoren auf der Grundlage von Formeln berechnen - alles ohne manuellen Eingriff.<\/p>\n\n\n\n

Versuchsergebnisse und Standardisierung von RF-Chip-Tests<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Um die Praxistauglichkeit dieses automatischen Testsystems zu \u00fcberpr\u00fcfen, f\u00fchrte das Forschungsteam umfassende Tests mit dem RX3701 RF-Chip durch, der Multisystemfunktionen wie Beidou und GPS unterst\u00fctzt. Dabei wurden acht Schl\u00fcsselindikatoren getestet, darunter die Intermodulation dritter Ordnung am Eingang, der Verst\u00e4rkungsbereich, die Rauschzahl und die Unterdr\u00fcckung von St\u00f6rungen au\u00dferhalb des Frequenzbands. Die Ergebnisse zeigten, dass alle getesteten Elemente die vorgegebenen Kriterien erf\u00fcllten, wobei einige Leistungen sogar die Designanforderungen \u00fcbertrafen. Dies best\u00e4tigte die Zuverl\u00e4ssigkeit des automatisierten Pr\u00fcfsystems f\u00fcr hochpr\u00e4zise und wiederholbare Aufgaben.<\/p>\n\n\n\n

Diese Errungenschaft zeigt nicht nur die Reife der automatisierten RF-Chip-Pr\u00fcftechnologie, sondern bietet der Branche auch wiederverwendbare Pr\u00fcfmethoden und standardisierte Prozesse. Sie ist von gro\u00dfer Bedeutung f\u00fcr die F\u00f6rderung der Standardisierung und Qualit\u00e4tsverbesserung von Chinas RF-Chips f\u00fcr die Satellitennavigation.<\/p>\n\n\n\n

Schlussfolgerung: RF-Chips mit Automatisierungstests ausstatten, um eine solide Grundlage f\u00fcr die Zukunft von Beidou zu schaffen<\/strong><\/p>\n\n\n\n

Als \u201cFront-End-Sensor\u201d von Navigationssystemen ist die Leistungspr\u00fcfung von HF-Chips durch Automatisierung und Standardisierung von entscheidender Bedeutung, um den zuverl\u00e4ssigen Betrieb und den gro\u00dffl\u00e4chigen Einsatz von Endger\u00e4ten zu gew\u00e4hrleisten. Da sich die Anwendungsszenarien f\u00fcr Beidou weiter ausweiten - von der Fahrzeugnavigation \u00fcber die Kommunikation in geringer H\u00f6he und die Pr\u00e4zisionslandwirtschaft bis hin zur Notfallrettung - wird die Nachfrage nach HF-Chip-Tests weiter steigen. Die F\u00f6rderung und Anwendung automatisierter Testplattformen wird Chinas RF-Chip-Industrie beim \u00dcbergang von \u201cselbstgesteuerten\u201d zu \u201chochwertigen Ergebnissen\u201d stark unterst\u00fctzen und eine solide Grundlage f\u00fcr die Entwicklung eines sicheren und zuverl\u00e4ssigen \u00d6kosystems f\u00fcr die Satellitennavigation schaffen.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"

Introduction RF chips, as the core components of satellite navigation terminals, play a critical role in determining the accuracy, anti-interference ability, and communication reliability of navigation systems. With the comprehensive service and industrialization of China\u2019s Beidou Satellite Navigation System, the efficiency and standardization of RF chip testing have become key factors in the development of […]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1428,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[30,31],"tags":[36],"class_list":["post-1425","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-insights","category-blog","tag-yvette-wu"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1425","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1425"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1425\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1429,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1425\/revisions\/1429"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1428"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1425"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1425"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1425"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}