{"id":1375,"date":"2025-10-10T01:23:47","date_gmt":"2025-10-10T01:23:47","guid":{"rendered":"https:\/\/www.wallisemi.com\/?p=1375"},"modified":"2025-10-13T01:30:07","modified_gmt":"2025-10-13T01:30:07","slug":"entwurf-und-implementierung-einer-automatisierten-prufplattform-fur-satellitennavigations-funkchips","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/blog\/industry-insights\/design-and-implementation-of-an-automated-testing-platform-for-satellite-navigation-rfchips\/","title":{"rendered":"Entwurf und Implementierung einer automatisierten Testplattform f\u00fcr RF-Chips in der Satellitennavigation"},"content":{"rendered":"<p><strong>RFchips<\/strong>&nbsp;sind Kernbestandteile von Navigationsterminals und wirken sich direkt auf die Gesamtleistung von Terminalprodukten aus. Da die <strong>BeiDou-Satellitennavigationssystem<\/strong>&nbsp;immer mehr genutzt wird, steigt die Nachfrage nach <strong>RFchip<\/strong>&nbsp;Pr\u00fcfung hat stark zugenommen. Herk\u00f6mmliche Pr\u00fcfverfahren k\u00f6nnen den steigenden Anforderungen an Effizienz und Pr\u00e4zision nicht mehr gerecht werden. Um dieser Herausforderung zu begegnen, wird in diesem Papier ein <strong>Automatisierte Testplattform f\u00fcr RF-Chips der Satellitennavigation<\/strong>, Dadurch werden sowohl die Effizienz als auch die Genauigkeit der Pr\u00fcfung effektiv verbessert.<\/p>\n\n\n\n<h5 class=\"wp-block-heading\"><strong>RFchip Plattform f\u00fcr automatisierte Tests: Hauptmerkmale<\/strong><strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n<p>Die <strong>RFchip<\/strong>&nbsp;automatisierte Testplattform basiert auf den Prinzipien der <strong>Offenheit, Flexibilit\u00e4t und Skalierbarkeit<\/strong>. Es integriert Standardpr\u00fcfger\u00e4te wie z. B. <strong>Signalgeneratoren<\/strong>, <strong>Spektrumanalysatoren<\/strong>, und <strong>Vektor-Netzwerk-Analysatoren<\/strong>. Die Plattform nutzt programmierbare Stromversorgungen und spezielle Pr\u00fcfvorrichtungen zur Unterst\u00fctzung <strong>universelle Schnittstellen<\/strong>&nbsp;zum Testen verschiedener Modelle von <strong>RFchips<\/strong>.<\/p>\n\n\n\n<p>Das Funktionsprinzip der Testplattform besteht in der Simulation der normalen Betriebsbedingungen von <strong>RFchips<\/strong>. Dies wird erreicht durch das Senden von <strong>SPI-Befehle<\/strong>&nbsp;zur Konfiguration der <strong>RFchip<\/strong>\u2019den Betriebszustand des Systems, die Eingabe von Anregungssignalen und die Erfassung von Ausgangssignalen zur Leistungsbewertung.<\/p>\n\n\n\n<h5 class=\"wp-block-heading\"><strong>Wichtige Leistungsindikatoren, die in RFchips getestet wurden<\/strong><strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n<p>Die Plattform testet <strong>acht wichtige Leistungsindikatoren<\/strong>&nbsp;(KPIs) von <strong>RFchips<\/strong>, die f\u00fcr die Bewertung der Funktionalit\u00e4t und Qualit\u00e4t der Chips entscheidend sind. Diese KPIs umfassen:<\/p>\n\n\n\n<p><strong>Intermodulationsgrenzpunkt dritter Ordnung (IM3) am Eingang<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>Gesamtverst\u00e4rkungsbereich<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>Bereich der Verst\u00e4rkungsregelung<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>1 dB Kompressionspunkt Eingangsleistung<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>Rauschzahl<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>Phasenrauschen des Lokaloszillators<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>Bandexterne Unterdr\u00fcckung<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p><strong>Bildunterdr\u00fcckung<\/strong><\/p>\n\n\n\n<p>Zum Beispiel bei der Pr\u00fcfung der <strong>Intermodulationsgrenzpunkt dritter Ordnung am Eingang<\/strong>, simuliert die Plattform eine nichtlineare Umgebung unter Verwendung von Dualsignaleing\u00e4ngen. Anschlie\u00dfend misst und berechnet sie die <strong>Linearit\u00e4t von RFchip<\/strong>&nbsp;Leistung mit hoher Pr\u00e4zision.<\/p>\n\n\n\n<h5 class=\"wp-block-heading\"><strong>Testbeispiel: RX3701 RF-Chip<\/strong><strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n<p>Um die Wirksamkeit der Plattform zu \u00fcberpr\u00fcfen, konstruierte das Forschungsteam ein Testsystem unter Verwendung der <strong>RX3701 Modell RFchip<\/strong>. Diese <strong>RFchip<\/strong>&nbsp;unterst\u00fctzt mehrere Satellitennavigationssysteme, bietet einen gro\u00dfen Frequenzbereich und eignet sich f\u00fcr verschiedene hochpr\u00e4zise Anwendungen.<\/p>\n\n\n\n<p>Die Testergebnisse zeigten, dass die <strong>RX3701 RF-Chip<\/strong>&nbsp;alle Designvorgaben erf\u00fcllt. Insbesondere die <strong>Intermodulationsgrenzpunkt dritter Ordnung am Eingang<\/strong>&nbsp;war <strong>28,391 dBm<\/strong>, die <strong>Gesamtverst\u00e4rkungsbereich<\/strong>&nbsp;war <strong>72.318 dB<\/strong>, und die <strong>Rauschzahl<\/strong>&nbsp;war <strong>8,866 dB<\/strong>, und zeigt eine hervorragende HF-Leistung.<\/p>\n\n\n\n<h5 class=\"wp-block-heading\"><strong>Effiziente, automatisierte Tests f\u00fcr RF-Chips<\/strong><strong><\/strong><\/h5>\n\n\n\n<p>Die automatisierte Testplattform verwendet <strong>Testvorlagen<\/strong>&nbsp;um einen Ein-Klick-Pr\u00fcfprozess zu erm\u00f6glichen, der den Bedarf an manuellen Eingriffen erheblich reduziert. Dies steigert sowohl die Effizienz als auch die Konsistenz der <strong>RFchip<\/strong>&nbsp;Testen. In Zukunft kann die Plattform weiter ausgebaut werden, um den Testbedarf verschiedener <strong>RFchip<\/strong>&nbsp;Typen, F\u00f6rderung der Entwicklung von standardisierten und intelligenten Tests f\u00fcr <strong>RFchips<\/strong>.<\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>RFchips&nbsp;are core components of navigation terminals, directly affecting the overall performance of terminal products. As the BeiDou satellite navigation system&nbsp;becomes more widely used, the demand for RFchip&nbsp;testing has surged. Traditional testing methods can no longer meet the increasing requirements for high efficiency and precision. To address this challenge, this paper designs and implements an automated [&hellip;]<\/p>\n","protected":false},"author":1,"featured_media":1376,"comment_status":"closed","ping_status":"open","sticky":false,"template":"","format":"standard","meta":{"_acf_changed":false,"footnotes":""},"categories":[30,31],"tags":[36],"class_list":["post-1375","post","type-post","status-publish","format-standard","has-post-thumbnail","hentry","category-industry-insights","category-blog","tag-yvette-wu"],"acf":[],"_links":{"self":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1375","targetHints":{"allow":["GET"]}}],"collection":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts"}],"about":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/types\/post"}],"author":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/users\/1"}],"replies":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/comments?post=1375"}],"version-history":[{"count":1,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1375\/revisions"}],"predecessor-version":[{"id":1377,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/posts\/1375\/revisions\/1377"}],"wp:featuredmedia":[{"embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media\/1376"}],"wp:attachment":[{"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/media?parent=1375"}],"wp:term":[{"taxonomy":"category","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/categories?post=1375"},{"taxonomy":"post_tag","embeddable":true,"href":"https:\/\/www.wallisemi.com\/de\/wp-json\/wp\/v2\/tags?post=1375"}],"curies":[{"name":"wp","href":"https:\/\/api.w.org\/{rel}","templated":true}]}}